[发明专利]路径延迟的测量方法、装置、电子装置和存储介质

权利要求书

1.一种路径延迟的测量方法，其特征在于，包括：

获取数字测试通道的源端的波形数据，其中，所述数字测试通道用于对电子元件进行测试，所述波形数据是在所述数字测试通道的末端为开路的状态下得到的；其中，所述数字测试通道的驱动产生阶跃信号，所述源端为测试路径靠近数字测试系统的一端，所述末端为所述测试路径靠近电子元件的一端；

根据所述波形数据获取波形中的斜率上升的拐点，其中，所述波形由所述波形数据确定；

根据所述拐点对应的时间和所述波形的起点对应的时间计算时间差，根据所述时间差的一半确定所述测试路径的延迟。

2.根据权利要求1所述的路径延迟的测量方法，其特征在于，所述根据所述波形数据获取波形中的斜率上升的拐点包括：

根据所述波形数据获取所述波形的平台期；

在所述平台期对应的时间之后，获取所述波形中纵坐标开始增大时的点作为所述拐点。

3.根据权利要求2所述的路径延迟的测量方法，其特征在于，所述根据所述波形数据获取所述波形的平台期包括：

对所述波形数据中的预设数量的数据进行求导，根据求导结果判断所述数据对应的波形是否为所述平台期。

4.根据权利要求2所述的路径延迟的测量方法，其特征在于，所述在所述平台期对应的时间之后，获取所述波形中纵坐标开始增大时的点作为所述拐点包括：

获取所述平台期之后的波形数据的导数；

在所述导数在预设时间段内均大于预设阈值，且所述波形数据中的电平大于预设电平值的情况下，获取所述导数开始大于所述预设阈值时对应的点作为所述拐点。

5.根据权利要求1所述的路径延迟的测量方法，其特征在于，所述获取数字测试通道的源端的波形数据包括：

根据预设的比较电平和比较边沿，获取相邻两次所述数字测试通道的测试系统状态的比较结果，根据所述比较结果获取跳变边沿，其中，所述测试系统状态包括通过和未通过，所述跳变边沿根据所述测试系统状态中的通过和未通过的边界确定；

在没有获取到跳变边沿的情况下，获取测试点位，并更新所述比较边沿；

在获取到所述跳变边沿的情况下，获取与所述跳变边沿对应的所有波形数据。

6.根据权利要求5所述的路径延迟的测量方法，其特征在于，所述获取测试点位包括：

根据两个所述比较边沿，确定比较边沿范围；

根据所述比较边沿范围，通过二分法获取所述测试点位。

7.一种路径延迟的测量装置，其特征在于，包括数字测试系统和处理器：

所述处理器获取所述数字测试系统中数字测试通道的源端的波形数据，其中，所述数字测试通道用于对电子元件进行校正，所述波形数据是在所述数字测试通道的末端为开路的状态下得到的；其中，所述数字测试通道的驱动产生阶跃信号，所述源端为测试路径靠近数字测试系统的一端，所述末端为所述测试路径靠近电子元件的一端；

所述处理器根据所述波形数据获取波形中的斜率上升的拐点，其中，所述波形由所述波形数据确定；

根据所述拐点对应的时间和所述波形的起点对应的时间计算时间差，根据所述时间差的一半确定所述测试路径的延迟。

8.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至6中任一项所述的路径延迟的测量方法。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至6中任一项所述的路径延迟的测量方法。