[发明专利]芯片测试系统、驱动芯片、电子标签及芯片测试方法

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：

测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；

多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；

所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。

2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述测试机台判断所述驱动芯片工作异常。

3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述测试机台用于输出一校正指令至所述驱动芯片，以使得所述驱动芯片输出一校正后功能参数，所述校正后功能参数位于所述预设数值范围时，所述测试机台判断所述驱动芯片工作正常，所述校正后功能参数不位于所述预设数值范围时，所述测试机台判断所述驱动芯片工作异常或再次输出一所述校正指令。

4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，每一所述比较单元包括一第一比较器，所述第一比较器具有第一输入端、第二输入端、第三输入端及一输出端；

所述第一输入端用于输入第一端值，所述第二输入端用于输入一第二端值，所述第一端值与所述第二端值用于限定所述预设数值范围，所述第三输入端电连接所述驱动芯片，用于输入一所述功能参数，所述输出端电连接所述测试机台，用于输出一所述判断结果至所述测试机台。

5.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，每一所述比较单元包括两个第二比较器，每一所述第二比较器具有一正相输入端、一反相输入端及一输出端；

所述两个第二比较器的反相输入端分别用于输入一第一端值和一第二端值，所述第一端值与所述第二端值用于限定所述预设数值范围，所述两个第二比较器的正相输入端相互电连接，用于输入一所述功能参数，所述两个第二比较器的输出端分别电连接所述测试机台，用于分别输出一所述判断结果至所述测试机台。

6.一种驱动芯片，其特征在于，所述驱动芯片用于接收一测试指令，并用于根据所述测试指令生成多个功能参数；

所述驱动芯片包括：

多个比较单元，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于生成判断结果；

数据处理单元，电连接所述多个比较单元，用于接收所述多个比较单元输出的多个判断结果，根据所述多个判断结果生成一测试结果并输出，所述测试结果用于指示所述驱动芯片的工作正常或工作异常。

7.如权利要求6所述的驱动芯片，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元判断所述驱动芯片工作异常。

8.如权利要求6所述的驱动芯片，其特征在于，所述多个判断结果中任意一个判断结果为所述功能参数不位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元用于生成一校正指令，以使得所述驱动芯片生成一校正后功能参数，所述校正后功能参数位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元判断所述驱动芯片工作正常，所述校正后功能参数不位于所述预设数值范围时，所述数据处理单元判断所述驱动芯片工作异常或再次生成一所述校正指令。

9.如权利要求6所述的驱动芯片，其特征在于，每一所述比较单元包括一第一比较器，所述第一比较器具有第一输入端、第二输入端、第三输入端及一输出端；

所述第一输入端用于输入第一端值，所述第二输入端用于输入一第二端值，所述第一端值与所述第二端值用于限定所述预设数值范围，所述第三输入端用于输入一所述功能参数，所述输出端电连接所述数据处理单元，用于输出一所述判断结果至所述数据处理单元。