[发明专利]芯片测试系统、驱动芯片、电子标签及芯片测试方法

说明书

本申请提供一种芯片测试系统，包括：测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。本申请还提供一种驱动芯片、电子标签及芯片测试方法。

技术领域

本申请涉及参数测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试系统、驱动芯片、应用该驱动芯片的电子标签、应用于该芯片测试系统的芯片测试方法以及应用于该驱动芯片的芯片测试方法。

背景技术

芯片制作完成之后，需要通过测试机台对该芯片的功能进行测试。测试机台依次输出多个测试信号至芯片，芯片根据所述多个测试信号依次输出多个功能参数，测试机台用于依次判断所述多个功能参数是否符合要求，以判断所述芯片是否合格。通常，对一颗芯片测试的功能参数达十几个甚至几十个，测试机台依次测试多个功能参数导致测试周期较长。

发明内容

本申请第一方面提供一种芯片测试系统，包括：

测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；

多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；

所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。

本申请第二方面提供一种驱动芯片，所述驱动芯片用于接收一测试指令，并用于根据所述测试指令生成多个功能参数；

所述驱动芯片包括：

多个比较单元，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于生成判断结果；

数据处理单元，电连接所述多个比较单元，用于接收所述多个比较单元输出的多个判断结果，根据所述多个判断结果生成一测试结果并输出，所述测试结果用于指示所述驱动芯片的工作正常或工作异常。

本申请第三方面提供一种电子标签，包括：

显示模组；

驱动芯片，电连接所述显示模组，所述驱动芯片如上述，所述驱动芯片还用于输出驱动信号驱动所述显示模组显示产品信息。

本申请第四方面提供一种芯片测试方法，用于测试一驱动芯片，包括：

输出一测试指令至所述驱动芯片，以使得所述驱动芯片输出多个功能参数；

接收所述多个功能参数，分别判断所述多个功能参数是否位于预设数值范围，并生成多个判断结果；

根据所述多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。

本申请第五方面提供一种芯片测试方法，用于测试驱动芯片，包括：

接收一测试指令，以根据所述测试指令生成多个功能参数；

分别判断所述多个功能参数是否位于预设数值范围，并生成多个判断结果；

根据所述多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。