[发明专利]一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架

权利要求书

1.一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架，包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构，其特征在于：所述筒身是支架的主体部分，用于容纳微波探头，并将所述支撑和锁紧结构连成一体；所述筒身前端延伸出多个所述支撑，可将微波探头稳定置于不同曲率的装备表面；所述支点位于每个支撑的顶端，支点底部为光滑球形；所述锁紧结构位于筒身的后端，用于固定微波探头。

2.根据权利要求1所述的微波探头支架，其特征是：所述微波探头支架由非金属透波材料制成。

3.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述筒身为圆筒形，并做镂空处理。

4.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述支撑的个数为3个或多于3个。

5.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述多个支撑构成的横截面的尺寸不小于所述筒身的横截面尺寸。

6.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述支撑的形状、厚度以及宽度从根部逐渐收缩至所述支点。

7.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述支点表面包覆橡胶套。

8.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述支点为隔热耐高温的气凝胶或硅酸铝泡沫材料制成。

9.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述支点的个数为3个，且位于同一平面的圆上，且三等分此圆，3个支点两两间夹角为120度。