[发明专利]一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架

说明书

本发明提供了一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架，包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构，所述筒身是支架的主体部分，用于容纳微波探头，并将所述支撑和锁紧结构连成一体；所述筒身前端延伸出多个所述支撑；所述支点位于每个支撑的顶端，支点底部为光滑球形；所述锁紧结构位于筒身的后端，用于固定微波探头。本支架是装备吸波涂层反射率现场测量的辅助装置，可适应复杂表面形状，并确保对同一部位进行多次测量时的姿态一致，极大地便利了现场测试设备微波探头的操作使用，提高了吸波涂层反射率测量结果精度。

技术领域

本发明涉及吸波涂层反射率测试领域，更具体的说，涉及一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架。

背景技术

吸波涂层常涂敷于装备表面用于降低装备表面的雷达波散射特性。吸波涂层涂敷到装备表面后，随着使用、自然磨损及腐蚀等原因，其性能会不断下降。因此，需要对装备的表面进行定期维护，确保其满足指标要求。为验证维护效果，需对维护后的吸波涂层的吸波性能进行检测。而装备的使用环境往往不具备吸波涂层反射率测量所需的实验室测试环境。装备吸波涂层反射率现场测量需采用专用的吸波涂层反射率测试设备进行测试。

现有的吸波涂层反射率现场测试设备，其微波探头无固定支架，使用过程中，需测试人员手持探头对准装备被测部位，存在随意性大、测量结果重复性差等问题，致使测量结果精度低，无法满足使用需求。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架，包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构，其特征在于：所述筒身是支架的主体部分，用于容纳微波探头，并将所述支撑和锁紧结构连成一体；所述筒身前端延伸出多个所述支撑，可将微波探头稳定置于不同曲率的装备表面；所述支点位于每个支撑的顶端，支点底部为光滑球形；所述锁紧结构位于筒身的后端，用于固定微波探头。

进一步，所述微波探头支架由非金属透波材料制成。

进一步，所述筒身为圆筒形，并做镂空处理。

进一步，所述支撑的个数为3个或多于3个。

进一步，所述多个支撑构成的横截面的尺寸不小于所述筒身的横截面尺寸。

进一步，所述支撑的形状、厚度以及宽度从根部逐渐收缩至所述支点。

进一步，所述支点表面包覆橡胶套。

进一步，所述支点为隔热耐高温的气凝胶或硅酸铝泡沫材料制成。

进一步，所述支点的个数为3个，且位于同一平面的圆上，且三等分此圆，3个支点两两间夹角为120度。

本发明带来的有益效果是，本支架可适应装备的不同表面形状，并确保对同一部位进行多次测量时的姿态一致，提高现场测试设备曲面适应性及测量稳定性，极大地便利了现场测试设备微波探头的操作使用，提高了吸波涂层反射率测量结果精度。

附图说明

图1是本发明的微波探头支架结构示意图。

图2是本发明的微波探头支架测试状态剖视图。

图3是本发明的微波探头支架结构示意图俯视图。

其中，1.筒身，2.支撑，3.支点，4.锁紧结构。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图，对本发明的技术方案作进一步具体的说明。

本实施例的一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架结构示意图如图1所示，微波探头支架包括：筒身1、支撑2、支点3以及锁紧结构4。