[发明专利]LED芯片倾斜角度的获取方法、系统、电子装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种LED芯片倾斜角度的获取方法、系统、电子装置及存储介质，方法包括：获取LED芯片图像，LED芯片图像上具有LED芯片组成的图像阵列；对LED芯片图像上的LED芯片进行外轮廓筛选，去除图像阵列内的外轮廓不完整的LED芯片；对筛选后的所有LED芯片进行白色填充并按照面积排序，选取面积大小中间的轮廓作为标准轮廓，对标准轮廓做最小外接矩形，并对外接矩形边长进行角度粗计算，得到粗略角度；利用标准轮廓代表的LED芯片计算所有LED芯片的精确角度；将精确角度与粗略角度叠加，得到LED芯片的倾斜角度。本发明LED芯片倾斜角度的计算效率高，计算结果精度高。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及一种LED芯片倾斜角度的获取方法、系统、电子装置及存储介质。

背景技术

LED芯片，称为led发光芯片，主要功能是把电能转化为光能，LED芯片容易受到生产中使用的光刻和蚀刻工艺影响产生划痕、脏污等外观缺陷，而外观缺陷不仅会影响LED发光的亮度，而且会造成死灯、虚焊等现象，因此对芯片进行外观缺陷检测不但能极大地提高性能，还有助于分析生产线故障问题。

在实际的工业视觉检测中，由于每次放料位置都有差异，图像传感器采集到的LED芯片图片往往不是横平竖直排列的，这将大大增加后续图像处理的难度，对此采取的最优方案是在正式采集图片前对料盘做一次角度旋转校正，以保证后续采集的图片都是方正的。

但是当前传统的角度计算方法普遍存在计算效率低，计算结果精度不高等问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种LED芯片倾斜角度的获取方法、系统、电子装置及存储介质，旨在解决现有技术中角度计算方法普遍存在计算效率低，计算结果精度不高的技术问题。

为实现上述目的，本发明第一方面提供一种LED芯片倾斜角度的获取方法，包括：获取LED芯片图像，所述LED芯片图像上具有LED芯片组成的图像阵列；对所述LED芯片图像上的LED芯片进行外轮廓筛选，去除所述图像阵列内的外轮廓不完整的LED芯片；对筛选后的所有LED芯片进行白色填充并按照面积排序，选取面积大小中间的轮廓作为标准轮廓，对标准轮廓做最小外接矩形，并对外接矩形边长进行角度粗计算，得到粗略角度；利用所述标准轮廓代表的LED芯片计算所有LED芯片的精确角度；将所述精确角度与所述粗略角度叠加，得到LED芯片的倾斜角度。

进一步地，所述利用所述标准轮廓代表的LED芯片计算所有LED芯片的精确角度包括：根据所述标准轮廓代表的LED芯片校正所述图像阵列内所有LED芯片外轮廓的重心坐标，并将每一个所述重心坐标做角度值为粗略角度的旋转变换，得到每一个轮廓重心变换后的新坐标；对所有的所述新坐标进行x坐标的升序排序，并选取前N个所述新坐标作为种子点，沿种子点做水平方向的直线，得到N条直线；遍历所述图像阵列内所有所述新坐标到每一条所述直线的距离，若距离小于预设的距离参数，则将该LED芯片的重心坐标加入所述直线对应种子点的集合；选取含重心坐标数量最多的种子点的集合，作为最佳直线拟合点，对该集合的所有点进行最小二乘拟合得到最佳角度直线，对该直线进行斜率求取；根据拟合直线斜率计算出精确角度。

进一步地，所述对所述LED芯片图像上的LED芯片进行外轮廓筛选，去除所述图像阵列内的外轮廓不完整的LED芯片，包括：对所述LED芯片图像上的LED芯片进行外轮廓搜索，得到轮廓数量；判断所述轮廓数量，若所述轮廓数量小于2，则结束倾斜角度的获取，并发出异常警报；若所述轮廓数量不小于2，对所有轮廓的面积进行排序，选取中间轮廓面积为标准面积S1，设置合理面积系数minFactor、maxFactor，将轮廓面积未在[minFactor*S1，maxFactor*S1]内的轮廓去除。

进一步地，所述对所述LED芯片图像上的LED芯片进行外轮廓搜索包括：对轮廓进行轮廓折线近似；根据返回折线的个数筛选出矩形轮廓。