[发明专利]天线模组、温度变化的检测方法及装置和相关应用

权利要求书

1.一种天线模组，其特征在于，包括：第一电极和第二电极；所述第一电极为天线本体或与天线本体连接并与天线本体保持等电压；

所述第一电极与所述第二电极可耦合形成互电容；

当有物体接近所述天线模组，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。

2.如权利要求1所述的天线模组，其特征在于，所述第二电极为金属片或者金属线。

3.如权利要求1所述的天线模组，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极平行或基本平行设置，且所述第一电极在所述第二电极表面上的投影覆盖所述第二电极。

4.如权利要求1所述天线模组，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极相耦合形成的互电容中，所述第一电极为激励电极，所述第二电极为感应电极；或者所述第一电极为感应电极，所述第二电极为激励电极。

5.如权利要求4所述的天线模组，其特征在于，所述第一电极或所述第二电极作为激励电极时，其激励信号的电压保持恒定。

6.一种制备如权利要求1-5任一项所述天线模组的方法，其特征在于，包括：

设置第一电极；

设置第二电极，所述第一电极与所述第二电极可相耦合形成互电容；且当有物体接近所述天线模组时，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，设置第二电极，包括：

在第一电极的一侧制备金属片或者金属线以形成第二电极；或

复用所述第一电极一侧的电路板上的金属片或金属线作为第二电极。

8.一种温度变化的检测方法，应用于如权利要求1-5任一项所述的天线模组，其特征在于，包括：

保持所述第一电极的电压恒定，对所述第一电极与所述第二电极耦合所形成互电容的大小进行检测，并监测所述互电容的大小是否发生变化；

若监测到所述互电容的大小发生变化，则根据互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，根据所述互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量，包括：

根据所述互电容大小的变化量及所述互电容的温度系数，计算出所述天线模组的温度变化量。

10.一种温度变化的检测装置，用于对如权利要求1-5任一项所述的天线模组的温度变化进行检测，其特征在于，包括：

互电容检测单元，用于对所述第一电极和第二电极耦合形成的互电容的大小进行检测，并监测所述互电容的大小是否发生变化；

温度变化确定单元，用于根据所述互电容的大小变化，确定所述天线模组的温度变化量。

11.一种温度检测系统，其特征在于，包括：如权利要求1-5任一项所述的天线模组和如权利要求10所述的温度变化的检测装置。

12.一种确定因物体靠近引发的电容变化量的方法，用于如权利要求1-5任一项所述的天线模组，其特征在于，包括：

保持所述第一电极电压的恒定，检测所述第一电极与第二电极耦合形成的互电容的大小；

检测所述第一电极与地形成的自电容的大小；

若监测到所述互电容和所述自电容的大小均发生变化，则根据所述互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量；

根据所述温度变化量和所述自电容的温度系数，确定所述天线本体由温度引起的自电容的大小变化量；

将所述第一电极与地形成的自电容的大小变化量减去所述天线本体由温度引起的自电容的大小变化量，得到所述天线本体因物体靠近而导致的自电容变化量。