[发明专利]参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统

权利要求书

1.一种参数校准方法，其特征在于，包括：

获取待校准的控制参数；

确定与量子芯片相对应的模拟运行误差；

基于所述模拟运行误差，确定与所述控制参数相对应的校准数据；

基于所述校准数据对所述控制参数进行校准，获得校准后控制参数，所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待校准的控制参数能够随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定与所述量子芯片相对应的模拟运行误差，包括：

获取所述量子芯片所包括的至少一个量子比特；

确定与所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差；

基于所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差，确定与所述量子芯片相对应的模拟运行误差。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，确定与所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差，包括：

确定所述至少一个量子比特各自对应的模拟性能参数和理论性能参数；

基于所述模拟性能参数和理论性能参数，确定与所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，确定所述至少一个量子比特各自对应的模拟性能参数，包括：

获取用于对所述量子芯片上至少一个量子比特进行控制的至少一个模拟运行参数；

确定所述至少一个模拟运行参数各自对应的量子门精度；

基于所述至少一个模拟运行参数各自对应的量子门精度，确定所述至少一个量子比特各自对应的模拟性能参数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，不同模拟运行参数所对应的模拟运行误差相同或者不同。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述模拟运行误差包括以下至少之一：与芯片参数相对应的模拟运行误差、与控制参数相对应的模拟运行误差。

8.根据权利要求2或7所述的方法，其特征在于，所述芯片参数包括以下至少之一：与所述量子芯片相对应的电容量、与所述量子芯片相对应的电感量、与所述量子芯片相对应的用于表征约瑟夫森结储存能量的参数。

9.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法，其特征在于，在获得校准后控制参数之后，所述方法还包括：

获取用于对所述量子芯片进行控制的设定控制参数，所述设定控制参数不会随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变；

基于所述设定控制参数和校准后控制参数控制所述量子芯片运行。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，在基于所述设定控制参数和校准后控制参数控制所述量子芯片运行之后，所述方法还包括：

确定所述量子芯片的量子门平均精度；

利用梯度优化算法和量子门平均精度对所述设定控制参数和校准后控制参数进行优化处理。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，确定所述量子芯片的量子门平均精度，包括：

获取用于对所述量子芯片上至少一个量子比特进行控制的至少一个设定误差参数；

确定所述至少一个设定误差参数各自对应的量子门精度；

对与所述至少一个设定误差参数相对应的所有量子门精度取平均值，获得量子门平均精度。