[发明专利]参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统

说明书

本发明实施例提供了一种参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统。参数校准方法包括：获取待校准的控制参数；确定与量子芯片相对应的模拟运行误差；基于模拟运行误差，确定与控制参数相对应的校准数据；基于校准数据对控制参数进行校准，获得校准后控制参数，校准后控制参数用于控制量子芯片运行。本实施例提供的技术方案，通过获取待校准的控制参数，确定与量子芯片相对应的模拟运行误差，而后基于模拟运行误差确定校准数据，并基于校准数据对控制参数进行校准，从而有效地实现了能够基于量子芯片所存在的模拟运行误差对控制参数进行校准操作，并可以基于校准后控制参数对量子芯片进行控制，进而保证了对量子芯片进行控制的精确程度。

技术领域

本发明涉及量子技术领域，尤其涉及一种参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统。

背景技术

量子芯片是指将量子线路集成在基片上，进而承载量子信息处理功能的芯片，在量子计算领域，需要基于芯片参数和控制参数对量子芯片进行控制，以实现量子门操作以及运行量子算法。然而，由于对量子芯片进行控制的部分参数会随时间发生变化，例如：用于对量子芯片进行控制的芯片参数随时间发生变化，并且，经过测量获得的芯片参数也会有误差。因此，针对上述用于对量子芯片进行控制的参数而言，需要进行一系列校准操作，以保证量子芯片运行的精确程度。

发明内容

本发明实施例提供了一种参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统，能够基于量子芯片所存在的模拟运行误差对控制参数进行校准操作，而后可以基于校准后控制参数对量子芯片进行控制，进而保证了对量子芯片进行控制的精确程度。

第一方面，本发明实施例提供一种参数校准方法，包括：

获取待校准的控制参数；

确定与量子芯片相对应的模拟运行误差；

基于所述模拟运行误差，确定与所述控制参数相对应的校准数据；

基于所述校准数据对所述控制参数进行校准，获得校准后控制参数，所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。

第二方面，本发明实施例提供一种参数校准装置，包括：

第一获取模块，用于获取待校准的控制参数；

第一确定模块，用于确定与量子芯片相对应的模拟运行误差；

所述第一确定模块，用于基于所述模拟运行误差，确定与所述控制参数相对应的校准数据；

第一处理模块，用于基于所述校准数据对所述控制参数进行校准，获得校准后控制参数，所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。

第三方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器；其中，所述存储器用于存储一条或多条计算机指令，其中，所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行时实现上述第一方面中的参数校准方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机存储介质，用于储存计算机程序，所述计算机程序使计算机执行时实现上述第一方面中的参数校准方法。

第五方面，本发明实施例提供了一种量子芯片的控制方法，包括：

获取用于控制量子芯片进行运算的第一参数和第二参数，所述第一参数能够随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变，所述第二参数不会随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变；

确定与所述第一参数相对应的校准数据，所述校准数据是基于所述量子芯片相对应的模拟运行误差所确定的；

基于所述校准数据对所述第一参数进行校准，获得校准后第一参数；

基于所述校准后第一参数和所述第二参数控制所述量子芯片进行运算。

第六方面，本发明实施例提供了一种量子芯片的控制装置，包括：