[发明专利]一种轴类零件同心测点位置校准盘、校准具及其校准方法

权利要求书

1.一种轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，包括校准盘本体和设置于所述校准盘本体的外圆环向面的连续刻线段。

2.如权利要求1所述的轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，所述连续刻线段的弧长相同且半径不同。

3.如权利要求1所述的轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，所述校准盘本体上设有装配部以匹配安装于置零标件上。

4.如权利要求3所述的轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，所述装配部为形成于校准盘中心的中心通孔和均布于所述中心通孔的外侧环面的均布通孔，所述置零标件端部与所述中心通孔相匹配以加载所述刻线调整盘，所述置零标件的端面上设有螺纹孔，所述均布通孔与所述螺纹孔分别一一对应，紧固螺钉穿过所述均布通孔和所述螺纹孔将所述刻线调整盘固定于所述置零标件上。

5.如权利要求1所述的轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，所述连续刻线段的半径的精度为0.01mm。

6.如权利要求3所述的轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，所述连续刻线段的相邻两个刻度段的半径的差值均为0.5mm。

7.如权利要求3所述的轴类零件同心测点位置校准盘，其特征在于，所述刻线调整盘设有两个调整区域，左侧调整区域的连续刻线段的调整范围为R～R+2.5mm，右侧调整区域的连续刻线段的调整范围为R+3.0～R+8.0mm。

8.一种轴类零件同心测点位置校准具，其特征在于，包括置零标件以及分别可拆卸固定于置零标件两端的右刻线调整盘和左刻线调整盘，所述右刻线调整盘和左刻线调整盘权利要求1所述的轴类零件同心测点位置校准盘。

9.如权利要求8所述的轴类零件同心测点位置校准具，其特征在于，所述置零标件为阶梯轴结构，所述置零标件的两端部的大直径段的端面为校准面，所述刻线调整盘通过螺栓同轴心固定于所述置零标件的端部。

10.如权利要求9所述的轴类零件同心测点位置校准具，其特征在于，所述置零标件的端面全跳动和相对轴线的垂直度小于0.01mm。

11.如权利要求8所述的轴类零件同心测点位置校准具，其特征在于，所述置零标件的端部设有光滑段，所述光滑段与所述校准盘中心的中心通孔相匹配以加载所述校准盘。

12.如权利要求8所述的轴类零件同心测点位置校准具，其特征在于，所述置零标件的材质与轴类零件的材质相同，所述置零标件和轴类零件的形状和尺寸相同。

13.如权利要求8所述的轴类零件同心测点位置校准具的校准方法，其特征在于，

当不需要进行测点位置调整时，不装配刻线调整盘，调整传感器位置，使其接触置零标件两端大直径段的端面任意位置，完成传感器零位校准；

当需要进行测点位置调整时，将右刻线调整盘和左刻线调整盘分别装配于置零标件两端，根据需要将传感器接触刻线调整盘的对应半径端面上，沿径向方向移动传感器，当传感器量程突然指向极限位置时，表示已调整到位，完成传感器的测点位置调整。