[发明专利]一种轴类零件同心测点位置校准盘、校准具及其校准方法

说明书

本发明公开了一种轴类零件同心测点位置校准盘、校准具及其校准方法，所述校准盘包括校准盘本体和设置于所述校准盘本体的外圆环向面的连续刻线段。所述校准具包括置零标件以及分别可拆卸固定于置零标件两端的右刻线调整盘和左刻线调整盘，所述右刻线调整盘和左刻线调整盘权利要求1所述的轴类零件同心测点位置校准盘。本发明可精确调整传感器沿校准具径向方向上位置的功能，且调整精度可达0.01mm。

技术领域

本发明涉及机械设计技术领域，特别是涉及一种轴类零件同心测点位置校准盘、校准具及其校准方法。

背景技术

测量领域中，对于轴向尺寸较大的轴类零件，通常采用相对测量方法进行轴向长度检测。当轴两端面为非平面，且沿径向方向存在一定的尺寸差异时，测量端面不同截面圆所得到的结果也不尽相同。常规测量方法，只能满足在指定区域内的定截面圆点对点测量，无法实现一定精度范围内的定点测量。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中存在轴端面为非平面时尺寸测量精度低的技术缺陷，而提供一种轴类零件同心测点位置校准盘。

本发明的另一个目的是提供一种基于所述校准盘的校准具。

本发明的另一个目的是提供所述轴类零件同心测点位置校准具的校准方法。

为实现本发明的目的所采用的技术方案是：

一种轴类零件同心测点位置校准盘，包括校准盘本体和设置于所述校准盘本体的外圆环向面的连续刻线段。

在上述技术方案中，所述连续刻线段的弧长相同且半径不同。

在上述技术方案中，所述校准盘本体上设有装配部以匹配安装于置零标件上。

一种轴类零件同心测点位置校准具，包括置零标件以及分别可拆卸固定于所述置零标件两端的右刻线调整盘和左刻线调整盘。

在上述技术方案中，所述置零标件为阶梯轴结构，所述置零标件的两端部的大直径段的端面为校准面。

在上述技术方案中，所述置零标件的端面全跳动和相对轴线的垂直度小于0.01mm。

在上述技术方案中，所述刻线调整盘通过螺栓同轴心固定于所述置零标件的端部。

在上述技术方案中，所述置零标件的端部设有光滑段，所述装配部为形成于所述刻线调整盘中心的中心通孔和均布于所述中心通孔的外侧环面的均布通孔，所述光滑段与所述中心通孔相匹配以加载所述刻线调整盘，所述置零标件的端面上设有螺纹孔，所述均布通孔与所述螺纹孔分别一一对应，所述紧固螺钉穿过所述均布通孔和所述螺纹孔将所述刻线调整盘固定于所述置零标件上。

在上述技术方案中，所述连续刻线段的半径的精度为0.01mm。

在上述技术方案中，所述连续刻线段的相邻两个刻度段的半径的差值均为0.5mm。

在上述技术方案中，所述刻线调整盘设有两个调整区域，左侧调整区域的连续刻线段的调整范围为R～R+2.5mm，右侧调整区域的连续刻线段的调整范围为R+3.0～R+8.0mm。

在上述技术方案中，所述置零标件的材质与轴类零件的材质相同，以保持相同的膨胀系数，提高测量的精准度，

在上述技术方案中，所述置零标件和轴类零件的形状和尺寸相同，同时可提高尺寸测量的精准度。

本发明的另一方面，所述轴类零件同心测点位置校准具的校准方法为：

当不需要进行测点位置调整时，不装配刻线调整盘，调整传感器位置，使其接触置零标件两端大直径段的端面任意位置，完成传感器零位校准；