[发明专利]勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质

说明书

本公开提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质，属于油气开发技术领域。该方法包括：获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置；确定工区内的多个面元，根据多个炮点位置和多个检波点的位置，确定每个面元对应的多个炮检对；对于每个面元，根据面元对应的多个炮检对，确定面元对应的勘探参数，得到多个面元对应的多个勘探参数；确定多个勘探参数所在的多个勘探参数区间，对于每个勘探参数区间，确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数；根据每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数，确定用于对工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。由于能够定量确定勘探系统的均匀参数，提高了均匀参数的准确性。

技术领域

本申请涉及油气开发技术领域，特别涉及一种勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着油田勘探开发的不断深入，对勘探精度的要求越来越高。为了提高勘探精度，以宽频、宽方位、高密度为主要手段的“两宽一高”地震勘探系统逐渐在各油田推广应用，而“两宽一高”地震勘探系统的勘探精度与该勘探系统的均匀参数成负相关，为了确定地震勘探系统的勘探精度，需要确定该勘探系统的均匀参数。

相关技术中，通过对偏移距进行离散度统计定性确定均匀参数，该方法包括：将待测工区划分为多个面元，对于每个面元，该面元内存在至少一个炮检对，对于每个炮检对，确定该炮检对之间的偏移距，得到多个偏移距，对多个偏移距从小到大进行排序，确定相邻偏移距的变化率曲线，通过变化率曲线的斜率定性确定勘探系统的均匀参数。其中，变化率曲线的斜率越大，均匀参数越大，反之，均匀参数越小。

但是，在上述相关技术中，由于变化率曲线的斜率只能定性确定均匀参数，也即，只能通过变化率曲线的斜率的大小来确定均匀参数的相对大小关系，所以通过离散度统计方法确定的均匀参数的准确性低。

发明内容

本申请实施例提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质，可以提高探区的钻探符合信息的准确性。所述技术方案如下：

一方面，本申请提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法，所述方法包括：

获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置；

确定所述工区内的多个面元，根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置，确定每个面元对应的多个炮检对；

对于每个面元，根据所述面元对应的多个炮检对，确定所述面元对应的勘探参数，得到所述多个面元对应的多个勘探参数；

确定所述多个勘探参数所在的多个勘探参数区间，对于每个勘探参数区间，确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数，所述比重参数用于表示所述勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重；

根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数，确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。

在一种可能的实现方式中，所述对于每个勘探参数区间，确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数，包括：

对于每个勘探参数区间，确定所述勘探参数区间对应的起始勘探参数和结束勘探参数；

确定第一累计比重参数和第二累计比重参数，所述第一累计比重参数为小于所述起始勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数，所述第二累计比重参数为小于所述结束勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数；

根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量，确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数。

在另一种可能的实现方式中，所述确定第一累计比重参数和第二累计比重参数，包括：

确定小于所述起始勘探参数的勘探参数的第一数量、小于所述结束勘探参数的勘探参数的第二数量和所述多个勘探参数的总数量；