[发明专利]一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法

权利要求书

1.一种消除红外系统杂散辐射的系统，其特征在于，包括：黑体、反射镜、遮挡板和探测器；

所述黑体为中空结构，所述黑体的内部设置有热源，所述黑体上设置有出口，所述热源发出的红外线能够通过所述出口辐射至所述反射镜，并通过所述反射镜反射至所述探测器；

至少部分所述遮挡板设置于所述出口至所述探测器的连线上，用于对通过所述连线辐射至所述探测器的红外线进行遮挡；所述遮挡板的反射率为0-0.1；

还包括：壳体、制冷装置；

所述黑体、所述反射镜和所述探测器均设置于所述壳体内；所述遮挡板与所述壳体的内壁连接；

所述制冷装置设置于所述遮挡板上；所述制冷装置，用于降低所述遮挡板的温度。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

所述遮挡板包括碳系吸波材料、铁系吸波材料和陶瓷系吸波材料中的至少一种。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

所述制冷装置包括斯特林制冷器、循环水制冷装置。

4.基于权利要求1至3中任一所述的一种消除红外系统杂散辐射的系统的校准方法，其特征在于，

获取探测器接收到黑体的热源发出的红外线后的探测温度；

确定所述热源的实际温度；

判断所述探测温度是否大于所述实际温度；

在所述探测温度不大于所述实际温度时，确定完成校准。