[发明专利]一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法

说明书

本发明提供了一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法，其特征在于，该系统包括：黑体、反射镜、遮挡板和探测器；黑体为中空结构，黑体的内部设置有热源，黑体上设置有出口，热源发出的红外线能够通过出口辐射至反射镜，并通过反射镜反射至探测器；至少部分遮挡板设置于出口至探测器的连线上，用于对通过连线辐射至探测器的红外线进行遮挡。本方案能够消除红外系统中黑体校准所形成的杂散辐射。

技术领域

本发明实施例涉及红外探测技术领域，特别涉及一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法。

背景技术

红外热像仪在使用过程中，探测器接受到的数据容易受自身辐射、空气、温度等外界因素影响，产生温度漂移，因此需要对温度进行校准。通常采用黑体校准对温度进行校准，即将黑体作为标准温度源，对探测器进行校准。

然而，对于设置在红外系统内的黑体校准，在校准过程中仍会有一部分红外线未经辐射传输光路而直接被探测器接收，形成杂散辐射，从而影响探测器测温准确性。

发明内容

本发明实施例提供了一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法，能够消除红外系统中黑体校准所形成的杂散辐射。

第一方面，本发明实施例提供了一种消除红外系统杂散辐射的系统，包括：包括：黑体、反射镜、遮挡板和探测器；

所述黑体为中空结构，所述黑体的内部设置有热源，所述黑体上设置有出口，所述热源发出的红外线能够通过所述出口辐射至所述反射镜，并通过所述反射镜反射至所述探测器；

至少部分所述遮挡板设置于所述出口至所述探测器的连线上，用于对通过所述连线辐射至所述探测器的红外线进行遮挡。

在一种可能的实现方式中，所述遮挡板设置于所述黑体上。

在一种可能的实现方式中，所述遮挡板的高度大于预设高度阈值；

所述预设高度阈值通过如下公式获得：

h＝(Ф/2+d)*cotθ

其中，h用于表征预设高度阈值；Ф用于表征所述出口的直径；d用于表征所述遮挡板距离所述出口边缘的距离；θ用于表征所述出口至所述探测器的连线与所述出口所在平面之间的夹角。

在一种可能的实现方式中，所述遮挡板的长度大于预设长度阈值；

所述预设长度阈值通过如下公式获得：

其中，l用于表征预设长度阈值；Ф用于表征所述出口的直径；d用于表征所述遮挡板距离所述出口边缘的距离；θ用于表征所述出口至所述探测器的连线与所述出口所在平面之间的夹角；a用于表征所述探测器接收端口的长度；h₁用于表征所述探测器至所述出口所在平面的距离。

在一种可能的实现方式中，该系统还包括：壳体；

所述黑体、所述反射镜和所述探测器均设置于所述壳体内，所述遮挡板与所述壳体的内壁连接。

在一种可能的实现方式中，所述遮挡板的反射率为0-0.1。

在一种可能的实现方式中，所述遮挡板包括碳系吸波材料、铁系吸波材料和陶瓷系吸波材料中的至少一种。

在一种可能的实现方式中，该系统还包括：制冷装置；

所述制冷装置设置于所述遮挡板上；

所述制冷装置，用于降低所述遮挡板的温度。

在一种可能的实现方式中，所述制冷装置包括斯特林制冷器、循环水制冷装置。

第二方面，本发明实施例还提供了基于上述任一实施例所述的系统的一种校准方法，该方法包括：