[发明专利]一种天线二维分区测向的方法、设备及存储介质有效
申请号: | 202110599623.5 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113296051B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | 李钊;刘涛;任锋;郎少波;梁龙龙;吴自新;罗绍彬;龚小立;贾发利 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | G01S3/14 | 分类号: | G01S3/14 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 刘世权 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 天线 二维 分区 测向 方法 设备 存储 介质 | ||
本发明公开了一种天线二维分区测向的方法、设备及存储介质,该方法包括S1:将天线分为2×2个子天线;S2:分别计算天线左子阵接收信号矢量和、天线右子阵接收信号矢量和、天线上子阵接收信号矢量和和天线下子阵接收信号矢量和;S3:进行方位测向时,计算天线左子阵接收信号矢量和与天线右子阵接收信号矢量和的相位差;进行俯仰测向时,计算天线上子阵接收信号矢量和与天线下子阵接收信号矢量和的相位差;S4:计算四个子天线接收到的波束和与波束差;S5:通过对波束和与波束差归一化处理得到比值K(θ);S6:通过比值K(θ)和波束指向中心的角度计算被测物体的信号方向。本发明能从水平方位和垂直俯仰上接收信号的方位来对外界辐射物体进行方位测向。
技术领域
本发明属于天线测向技术领域,尤其涉及一种天线二维分区测向的方法、设备及存储介质。
背景技术
测定电波来波方向,往往需要以几个位置不同的测向站(台)组网测向,用各测向站的示向度(线)进行交汇。条件允许时,也可以用移动测向站,在不同位置依次分时交测。
通常情况下,通过天线对外界辐射源进行测向都是在一维水平方位上,例如水平的多天线比幅测向,就算由多个天线组成子阵都是在水平方位上,通过水平基线天线进行对外界辐射源测向,这样做只能测出外界辐射源的水平方位,无法测出外界辐射源的俯仰方位。
发明内容
本发明的目的在于,为克服现有技术缺陷,提供了一种天线二维分区测向的方法、设备及存储介质,。
本发明目的通过下述技术方案来实现:
一种天线二维分区测向的方法,包括:
S1:将天线分为2×2个子天线;
S2:分别计算天线左子阵接收信号矢量和、天线右子阵接收信号矢量和、天线上子阵接收信号矢量和和天线下子阵接收信号矢量和;其中,天线左子阵为2×2个子天线中左侧两个子天线,天线右子阵为2×2个子天线中右侧两个子天线,天线上子阵为2×2个子天线中上侧两个子天线,天线下子阵为2×2个子天线中下侧两个子天线;
S3:进行方位测向时,计算天线左子阵接收信号矢量和与天线右子阵接收信号矢量和的相位差;进行俯仰测向时,计算天线上子阵接收信号矢量和与天线下子阵接收信号矢量和的相位差;
S4:计算四个子天线接收到的波束和与波束差;
S5:通过对波束和与波束差归一化处理得到比值K(θ);
S6:通过比值K(θ)和波束指向中心的角度计算被测物体的信号方向。
进一步的,每个子天线分为N×N个分支天线,N为正整数。
进一步的,相位差为
其中,d为四个子天线之间的间距,θ0为波束指向中心的角度,Δθ是目标偏离波束中心的角度,λ为波束的波长。
进一步的,比值K(θ)具体为:其中Σ为四个天线分区收到的波束之和Δ为四个天线分区收到的波束之差E为各个子天线收到信号的矢量和。
进一步的,步骤S6具体包括:计算被测物体的方位方向或者俯视方向;
其中,被测物体信号方向为θ0+Δθ,
进一步的,当相位差是天线左子阵接收信号矢量和与天线右子阵接收信号矢量和的相位差时,得到的θ0+Δθ为被测物体方位方向;当相位差是天线上子阵接收信号矢量和与天线下子阵接收信号矢量和的相位差时,得到的θ0+Δθ为被测物体俯仰方向。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所,未经中国电子科技集团公司第二十九研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110599623.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。