[发明专利]一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置

说明书

本发明涉及半导体分立器件制造技术领域，且公开了一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置，包括转动装置，所述转动装置的右侧设置有测试装置，所述测试装置的右侧设置有推出装置。该用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置，通过转动装置、测试装置和推出装置的配合使用，从而达到了将装置放在托盘上卡接好后，启动装置就能自动完成测试的操作，且能自动筛选掉不合格的半导体二极管，简化了操作难度，提高了检测的效率的效果。

技术领域

本发明涉及半导体分立器件制造技术领域，具体为一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置。

背景技术

半导体分立器通常指半导体二极管、半导体三极管和半导体特殊器件，而半导体二极管在制造完成后出厂之前要对其击穿电压进行检测，保证出厂的半导体二极管的击穿电压都能达标，以保证产品的安全性能。而因为半导体二极管只允许电流从正极的一端流向负极一端，所以通常检测方法是给半导体施加一个设定好的反向电压，使电流从二极管的负极进入，当二极管被击穿时电流从二极管的正极流出，产品不合格，这样操作繁琐，较为耗费人力。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置，具备将装置放在托盘上卡接好后，启动装置就能自动完成测试的操作，且能自动筛选掉不合格的半导体二极管，简化了操作难度，提高了检测的效率的优点，解决了因为半导体二极管只允许电流从正极的一端流向负极一端，所以通常检测方法是给半导体施加一个设定好的反向电压，使电流从二极管的负极进入，当二极管被击穿时电流从二极管的正极流出，产品不合格，这样操作繁琐，较为耗费人力的问题。

(二)技术方案

为实现上述将装置放在托盘上卡接好后，启动装置就能自动完成测试的操作，且能自动筛选掉不合格的半导体二极管，简化了操作难度，提高了检测的效率的目的，本发明提供如下技术方案：一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置，包括转动装置，所述转动装置的右侧设置有测试装置，所述测试装置的右侧设置有推出装置。

所述转动装置包括动力轮，所述动力轮的表面转动连接有固定齿轮，所述动力轮的表面固定连接有转动架，所述转动架的后侧转动连接有传动轴，所述传动轴的两端固定连接有传动齿轮，所述转动架的右端转动连接有配合齿轮，所述配合齿轮的表面固定连接有托盘，所述托盘的表面设置有夹持架。

优选的，所述动力轮与外部电机连接，固定齿轮固定并与动力轮转动连接且共圆心；所述转动架有三个，转动架的一端与动力轮固定连接，且在动力轮的径向上，且三个转动架之间的角度相等。

优选的，所述传动轴有三个，分别设置在三个转动架上，并分别与它们平行且转动连接，所述传动齿轮有六个，每个传动轴的两端分别固定连接有两个传动齿轮，其中靠近固定齿轮的一端的传动齿轮与之啮合。

优选的，所述配合齿轮有三个，分别转动连接在三个转动架的远离动力轮的一端，并与这一端的传动齿轮啮合；所述托盘和夹持架分别有三个，三个托盘分别与三个配合齿轮固定连接且共圆心，三个夹持架分别设置在三个托盘上，且方向与水平线垂直。

所述测试装置包括右测试块，所述右测试块的左侧表面设置有正极触点，所述右测试块的表面固定连接有连接杆，所述连接杆的左端固定连接有左测试块，所述左测试块的右侧表面设置有负极触点。

优选的，所述右测试块固定并与水平线垂直，正极触点与外部电源的正极电连接，所述连接杆与水平线平行，左测试块与右测试块正对，负极触点与正极触点正对。

所述推出装置包括转动臂，所述转动臂的表面固定连接有限位扇形块，所述限位扇形块的表面设置有触动按钮，所述限位扇形块的右侧设置有转动轮，所述转动轮的表面固定连接有转动推杆，所述转动轮的表面固定连接有间歇轮。