[发明专利]存储器器件在审
申请号: | 202110606344.7 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113327929A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 孙宏彰;江昱维;杨子庆;蒋国璋;赖升志 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11568 | 分类号: | H01L27/11568;H01L27/11582 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 器件 | ||
1.一种存储器器件,包括:
第一多层堆叠,设置在衬底上且包括交替堆叠的多个第一导电层与多个第一介电层;
沟道层,穿过多个所述第一导电层及多个所述第一介电层,其中所述沟道层包括彼此隔开的第一沟道部与第二沟道部;
电荷存储层,设置在多个所述第一导电层与所述沟道层之间;
第一导电柱,设置在所述第一沟道部的一个端部与所述第二沟道部的一个端部之间;以及
第二导电柱,设置在所述第一沟道部的另一端部与所述第二沟道部的另一端部之间。
2.根据权利要求1所述的存储器器件,还包括:
第二多层堆叠,设置在所述衬底上且包括交替堆叠的多个第二导电层与多个第二介电层,其中
所述沟道层穿过多个所述第二导电层及多个所述第二介电层。
3.根据权利要求2所述的存储器器件,还包括:
第三介电层,设置在所述第一多层堆叠与所述第二多层堆叠之间。
4.根据权利要求1所述的存储器器件,其中所述电荷存储层被所述第一导电柱及所述第二导电柱划分成两部分。
5.一种存储器器件,包括:
多层堆叠,设置在衬底上且包括交替堆叠的多个导电层与多个介电层;
沟道层,穿过多个所述导电层及多个所述介电层;
电荷存储层,设置在多个所述导电层与所述沟道层之间;
绝缘层,穿过多个所述导电层及多个所述介电层且设置在所述电荷存储层与所述多层堆叠之间;以及
第一导电柱及第二导电柱,被所述沟道层包围。
6.根据权利要求5所述的存储器器件,还包括:
第一介电层,设置在所述绝缘层与所述电荷存储层之间;以及
第二介电层,设置在所述电荷存储层与所述沟道层之间。
7.根据权利要求6所述的存储器器件,其中所述绝缘层设置在所述第一介电层与所述衬底之间、所述电荷存储层与所述衬底之间、以及所述第二介电层与所述衬底之间。
8.根据权利要求5所述的存储器器件,还包括:
介电柱,其中所述绝缘层设置在所述介电柱与所述衬底之间,且所述介电柱被所述沟道层包围并位于所述绝缘层上。
9.一种存储器器件,包括:
多层堆叠,设置在衬底上且包括交替堆叠的多个导电层与多个介电层;
沟道层,穿过多个所述导电层及多个所述介电层;
电荷存储层,设置在多个所述导电层与所述沟道层之间;
第一导电柱及第二导电柱,与所述沟道层相邻;
第一内连线结构,连接到所述第一导电柱的端部;以及
第二内连线结构,连接到所述第二导电柱的端部,其中
所述第一导电柱的连接到所述第一内连线结构的所述端部与所述第二导电柱的连接到所述第二内连线结构的所述端部位于所述多层堆叠的相对侧。
10.根据权利要求9所述的存储器器件,其中所述第一内连线结构及所述第二内连线结构分别包括导线。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的