[发明专利]基于带内全双工的通信性能测试方法及系统、存储介质有效
申请号: | 202110614928.9 | 申请日: | 2021-06-02 |
公开(公告)号: | CN113452457B | 公开(公告)日: | 2022-11-01 |
发明(设计)人: | 张亦弛;何昭;聂梅宁;张子龙;黄见明;田飞;高鸿莹 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | H04L5/14 | 分类号: | H04L5/14;H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 | 代理人: | 黄耀威 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 带内全 双工 通信 性能 测试 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种基于带内全双工的通信性能测试方法,其特征在于,包括:
生成至少两个调制测试信号,其中,任意两个调制测试信号的离散频谱互不交叠,且至少有两个调制测试信号的覆盖频段存在部分重合;
通过将所述至少两个调制测试信号作用于基于带内全双工的通信模块上,获取所述通信模块的接收端的全频段测量结果;
全频段测量结果包括:通信模块中的第一通信模块对应的调制测试信号的反射信号或反向传输信号,以及通信模块中除第一通信模块之外的通信模块对应的调制测试信号的接收信号;
根据所述全频段测量结果对所述通信模块进行性能测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述至少两个调制测试信号为两个调制测试信号,所述生成至少两个调制测试信号包括:
设定载波频率为第一预设频率的第一调制测试信号、载波频率为第二预设频率的第二调制测试信号,作为所述两个调制测试信号;所述第一调制测试信号对应的第一频谱的任一频率与所述第二调制测试信号对应的第二频谱的任一频率均不相等,且所述第一频谱与所述第二频谱之间存在频段交叠;
确定所述两个调制测试信号各自对应的信号波形;
基于所述两个调制测试信号各自对应的信号波形,通过信号发生装置生成所述两个调制测试信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过将所述至少两个调制测试信号作用于基于带内全双工的通信模块上获取所述通信模块的接收端的全频段测试结果包括:
将所述至少两个调制测试信号分别作用在各自对应的通信模块上,所述通信模块包括至少两个通信模块;
获取第一通信模块的接收端的全频段测量结果,所述第一通信模块为所述通信模块中的任一通信模块;所述全频段测量结果包括:所述第一通信模块对应的调制测试信号的反射信号或反向传输信号,以及所述通信模块中除所述第一通信模块之外的通信模块对应的调制测试信号的接收信号。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述全频段测量结果包括:第二通信模块对应的调制测试信号的反射信号或反向传输信号,以及所述通信模块中除所述第二通信模块之外的第三通信模块对应的第三调制测试信号的接收信号;所述第二通信模块为所述通信模块中任一通信模块,所述根据所述全频段测量结果对所述通信模块进行性能测试包括:
从所述全频段测量结果中分离出所述第三通信模块对应的接收信号;
确定所述第三通信模块对应的接收信号的第一频谱以及所述第三调制测试信号的第二频谱;
基于所述第一频谱和所述第二频谱,计算所述第三调制测试信号与所述第三通信模块对应的接收信号之间的信号误差,其中,所述信号误差为反映所述第三通信模块至所述第二通信模块的传输链路的通信质量的性能指标。
5.一种基于带内全双工的通信性能测试系统,其特征在于,至少包括:信号发生模块,测量模块以及数据处理模块,其中,
所述信号发生模块,用于生成至少两个调制测试信号,其中,任意两个调制测试信号的离散频谱互不交叠,且至少有两个调制测试信号的覆盖频段存在部分重合;
所述测量模块,用于通过将所述至少两个调制测试信号作用于基于带内全双工的通信模块上,获取所述通信模块的接收端的全频段测量结果;全频段测量结果包括:通信模块中的第一通信模块对应的调制测试信号的反射信号或反向传输信号,以及通信模块中除第一通信模块之外的通信模块对应的调制测试信号的接收信号;
所述数据处理模块,用于根据所述全频段测量结果对所述通信模块进行性能测试。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述系统还包括信号设计模块,
所述信号设计模块,用于设定载波频率为第一预设频率的第一调制测试信号、载波频率为第二预设频率的第二调制测试信号,作为所述两个调制测试信号;所述第一调制测试信号对应的第一频谱的任一频率与所述第二调制测试信号对应的第二频谱的任一频率均不相等,且所述第一频谱与所述第二频谱之间存在频段交叠;并确定所述两个调制测试信号各自对应的信号波形,以使所述信号发生模块根据所述两个调制测试信号各自对应的信号波形生成所述两个调制测试信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110614928.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种5G数据中心用节能机柜
- 下一篇:一种基于SM2算法的适配器签名生成方法