[发明专利]基于带内全双工的通信性能测试方法及系统、存储介质有效
申请号: | 202110614928.9 | 申请日: | 2021-06-02 |
公开(公告)号: | CN113452457B | 公开(公告)日: | 2022-11-01 |
发明(设计)人: | 张亦弛;何昭;聂梅宁;张子龙;黄见明;田飞;高鸿莹 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | H04L5/14 | 分类号: | H04L5/14;H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 | 代理人: | 黄耀威 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 带内全 双工 通信 性能 测试 方法 系统 存储 介质 | ||
本发明涉及射频微波测量技术,公开了一种基于带内全双工的通信性能测试方法及系统、存储介质,该方法包括:生成至少两个调制测试信号,其中,任意两个调制测试信号的离散频谱互不交叠,且至少有两个调制测试信号的覆盖频段存在部分重合;通过将所述至少两个调制测试信号作用于基于带内全双工的通信模块上,获取所述通信模块的接收端的全频段测量结果;根据所述全频段测量结果对所述通信模块进行性能测试。通过本发明,解决了相关技术中对带内全双工设备的通信性能测试不准确的技术问题。
技术领域
本发明涉及射频微波测量技术,具体而言,涉及一种基于带内全双工的通信性能测试方法及系统、存储介质。
背景技术
现有的射频微波设备和器件的测试方法一般基于“单发单收”的半双工模式,即时分双公;即使采用了全双工模式,也主要针对“频分双公”场景,其两路测试信号处在不同的工作频段,也就是说,现有的测试方法不能模拟带内全双工IBFD的测试场景,其测量结果不能如实反映被测设备和器件在真实工作条件下的特性,从而导致对带内全双工IBFD设备和器件的性能测试不准确。
针对相关技术中存在的上述问题,目前尚未发现有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种基于带内全双工的通信性能测试方法及系统、存储介质,以解决了相关技术中对带内全双工设备的通信性能测试不准确的技术问题。
根据本发明的一个实施例,提供了一种基于带内全双工的通信性能测试方法,包括:生成至少两个调制测试信号,其中,任意两个调制测试信号的离散频谱互不交叠,且至少有两个调制测试信号的覆盖频段存在部分重合;通过将所述至少两个调制测试信号作用于基于带内全双工的通信模块上,获取所述通信模块的接收端的全频段测量结果;根据所述全频段测量结果对所述通信模块进行性能测试。
可选的,若所述至少两个调制测试信号为两个调制测试信号,所述生成至少两个调制测试信号包括:设定载波频率为第一预设频率的第一调制测试信号、载波频率为第二预设频率的第二调制测试信号,作为所述两个调制测试信号;所述第一调制测试信号对应的第一频谱的任一频率与所述第二调制测试信号对应的第二频谱的任一频率均不相等,且所述第一频谱与所述第二频谱之间存在频段交叠;确定所述两个调制测试信号各自对应的信号波形;基于所述两个调制测试信号各自对应的信号波形,通过信号发生装置生成所述两个调制测试信号。
可选的,所述通过将所述至少两个调制测试信号作用于基于带内全双工的通信模块上获取所述通信模块的接收端的全频段测试结果包括:将所述至少两个调制测试信号分别作用在各自对应的通信模块上,所述通信模块包括至少两个通信模块;获取第一通信模块的接收端的全频段测量结果,所述第一通信模块为所述通信模块中的任一通信模块;所述全频段测量结果包括:所述第一通信模块对应的调制测试信号的反射信号或反向传输信号,以及所述通信模块中除所述第一通信模块之外的通信模块对应的调制测试信号的接收信号。
可选的,所述全频段测量结果包括:第二通信模块对应的调制测试信号的反射信号或反向传输信号,以及所述通信模块中除所述第二通信模块之外的第三通信模块对应的第三调制测试信号的接收信号;所述第二通信模块为所述通信模块中任一通信模块,所述根据所述全频段测量结果对所述通信模块进行性能测试包括:从所述全频段测量结果中分离出所述第三通信模块对应的接收信号;确定所述第三通信模块对应的接收信号的第一频谱以及所述第三调制测试信号的第二频谱;基于所述第一频谱和所述第二频谱,计算所述第三调制测试信号与所述第三通信模块对应的接收信号之间的信号误差,其中,所述信号误差为反映所述第三通信模块至所述第二通信模块的传输链路的通信质量的性能指标。
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