[发明专利]置物检测方法、电路及置物装置

权利要求书

1.一种置物检测方法，应用于设置有光敏电阻串联电路的置物装置中，其特征在于，包括：

获取所述电路的检测总电阻值；

根据所述检测总电阻值，以及预设的电阻总数量、亮电阻阻值、暗电阻阻值，计算被遮挡光敏电阻数量；其中所述亮电阻阻值为所述光敏电阻未被遮挡时的阻值，所述暗电阻阻值为所述光敏电阻被遮挡时的阻值；

根据所述被遮挡光敏电阻数量，以及预设的电阻总数量、置物装置容纳参数，计算所述置物装置的容纳情况。

2.根据权利要求1所述的置物检测方法，其特征在于，所述置物装置容纳参数为所述置物装置的置物面积，所述容纳情况为所述置物装置的已占用面积。

3.根据权利要求1所述的置物检测方法，其特征在于，所述被遮挡光敏电阻数量n具体为：

其中，Rt为所述检测总电阻值，m为所述电阻总数量，Ra为所述暗电阻阻值，Rl为所述亮电阻阻值。

4.根据权利要求1所述的置物检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：

获取所述电路两端的检测电压值；

根据所述检测电压值，以及预设的总电压值、分压电阻阻值，计算所述检测总电阻值。

5.根据权利要求4所述的置物检测方法，其特征在于，所述被遮挡光敏电阻数量，具体为：

其中，Rd为所述分压电阻阻值，Vadc为所述检测电压值，Vcc为所述总电压值，m为所述电阻总数量，Rl为所述亮电阻阻值，Ra为所述暗电阻阻值。

6.一种置物检测电路，设置于置物装置(2)内，其特征在于，包括依次电性连接的光敏检测装置(4)、阻值检测装置(31)以及控制器(32)；

所述光敏检测装置(4)和所述阻值检测装置(31)，用于获取检测总电阻值，所述控制器(32)用于计算被遮挡光敏电阻数量以及所述置物装置(2)的容纳情况；

所述置物检测电路用于根据权利要求1-5任一项所述的置物检测方法，对所述置物装置(2)进行容纳情况检测。

7.根据权利要求6所述的置物检测电路，其特征在于，所述光敏检测装置(4)包括至少一组光敏电阻串联电路，每组所述光敏电阻串联电路包括至少两个光敏电阻。

8.根据权利要求6所述的置物检测电路，其特征在于，所述电路还包括模数转换器(33)，所述阻值检测装置(31)为分压电阻(Rd)，所述分压电阻(Rd)通过所述模数转换器(33)与所述控制器(32)电性连接。

9.一种置物装置，其特征在于，包括：至少一个置物单元(21)，以及权利要求6-8任一项所述的置物检测电路(3)，

所述置物检测电路(3)包括依次电性连接的光敏检测装置(4)、阻值检测装置(31)以及控制器(32)，所述光敏检测装置(4)设置于所述置物单元(21)中，用以感测所述置物单元(21)内放置的物品。

10.根据权利要求9所述的置物装置，其特征在于，所述光敏检测装置(4)包括相互串联，且分别设置于所述置物单元(21)的第一区域(21A)、第二区域(21B)、第三区域(21C)和第四区域(21D)的第一光敏电阻(4A)、第二光敏电阻(4B)、第三光敏电阻(4C)和第四光敏电阻(4D)，

所述第一区域(21A)、所述第二区域(21B)、所述第三区域(21C)和所述第四区域(21D)面积相等，且面积之和等于所述置物单元(21)总面积。