[发明专利]一种芯片修调电路及修调方法

权利要求书

1.一种芯片修调电路，其特征在于，包括：

1个修调引线端，作为芯片的修调PAD；

n+1个修调单元，与所述修调引线端连接共用同一个所述修调PAD；

n+1个控制单元，其中n个控制单元受控于使能信号输出修调控制信号CO[n:1]，1个控制单元输出修调控制信号CO[0]；

n个修调单元根据CO[n:1]执行熔断或不熔断对应修调熔丝的操作；

1个修调单元根据CO[0]执行熔断对应修调熔丝的操作，该修调熔丝的熔断状态作为所述使能信号控制所述CO[n:1]的输出状态；

n+1个修调熔丝检测电路，用于检测所述修调熔丝的熔断状态，当对应修调熔丝熔断以后该修调熔丝检测电路的输出电平翻转；

所述1个修调单元的修调熔丝熔断后，所述CO[n:1]被置为固定状态，n个所述修调单元始终执行不熔断修调熔丝的操作。

2.根据权利要求1所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述修调单元由修调熔丝和受控的开关器件组成；

所述开关器件连接在修调PAD和修调熔丝之间；

所述CO[n:1]和CO[0]用于控制对应开关器件的导通和关断；

开关器件导通，对应的修调熔丝执行熔断操作。

3.根据权利要求2所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述开关器件主要由MOS管组成，MOS管的栅极作为受控端接收对应的CO[n:1]或CO[0]。

4.根据权利要求2或3任一项所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述n个控制单元分别由使能开关和输出通道1组成，所述使能开关受控于所述使能信号；

初始状态下所述使能开关闭合，修调控制信号C[n:1]经所述输出通道1输出修调控制信号CO[n:1]，n个所述修调单元根据CO[n:1]执行对应修调熔丝的熔断或不熔断操作；

所述1个修调单元的修调熔丝熔断后，使能开关断开，CO[n:1]被置为某一固定状态使得开关器件始终保持断开。

5.根据权利要求4所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述输出通道1由具有使能控制端的元器件组成。

6.根据权利要求4或5所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述使能开关为MOS管器件，MOS管器件的栅极受控于所述1个修调单元的修调熔丝熔断状态。

7.根据权利要求6所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述使能开关包括：

第一MOS管和第二MOS管；

第一MOS管连接在输出通道1的对应的斯密特触发器或反相器电源端与所述修调引线端之间；

第二MOS管连接在输出通道1的对应的斯密特触发器或反相器电源端与接地端之间；

第一MOS管和第二MOS管的栅极受控于所述熔丝检测信号TRIMOUT[0]；

修调状态下，第一MOS管导通，第二MOS管断开，输出通道1输出CO[n:1]；

修调结束后，所述1个修调单元根据CO[0]执行熔断对应修调熔丝的操作，熔丝检测信号TRIMOUT[0]翻转，输出通道1断开，CO[n:1]输出为某一固定状态，使得所述开关器件始终保持断开状态。

8.根据权利要求1-7任一项所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述修调熔丝检测电路包括与所述修调熔丝连接的输出通道2，输出通道2输出对应的熔丝检测信号TRIMOUT[n:0]；

所述修调熔丝熔断后，对应的熔丝检测信号TRIMOUT[n:0]电平翻转；

其中，熔丝检测信号TRIMOUT[n:1]用于芯片内部修调，所述1个修调单元修调熔丝所对应的熔丝检测信号TRIMOUT[0]连接至所述使能开关的控制端；

TRIMOUT[0]电平翻转后，所述使能开关断开。

9.根据权利要求1-8任一项所述的一种芯片修调电路，其特征在于，所述1个控制单元包括一个输出通道3，修调控制信号C[0]经所述输出通道3以后输出CO[0]。