[发明专利]半导体结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110624332.7 申请日: 2021-06-04
公开(公告)号: CN113506787A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 庄劭萱;张皇贤 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/528;H01L21/48;H01L21/768
代理公司: 北京植德律师事务所 11780 代理人: 唐华东
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制造 方法
【说明书】:

本公开提供的半导体结构及其制造方法,在通过粘合层(Adhesion film)结合重布线层(Fan‑Out)与基板(Substrate)后,通过预先设置的第一模具对重布线层与粘合层进行挤压制程,并脱模形成贯穿布线层与粘合层的开孔(导通的预定位置)以露出基板的焊垫(Pad),再填充导电材料以形成导通孔(Via)以电性连接重布线层与基板,相对于激光钻孔制程,可以实现更小目标尺寸孔径的开孔,而相对于蚀刻开孔工艺,可以提高产能。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域,具体涉及半导体结构及其制造方法。

背景技术

FOSub(Fan-Out结合Substrate)是目前结合Fan-Out(扇出层/重布线层)与Substrate(基板)的一种方法,具体地,通过Adhesion film(粘合层/胶层)结合Fan-Out与Substrate,再通过Via(导通孔)联通Fan-Out与Substrate之间的电性通道。然而,在激光钻孔工艺开孔并填充导电材料以形成Via的过程中,由于目前激光钻孔工艺能力的极限所形成开孔的孔径约为50微米,无法满足形成更小孔径(例如孔径目标尺寸20微米)开孔的需求。而利用刻蚀开孔工艺所形成的更小孔径的开孔,则会由于刻蚀开孔工艺需要花费较多时间,工艺难度也大,刻蚀率低,导致产能低。

发明内容

本公开提供了半导体结构及其制造方法。

第一方面,本公开提供了一种半导体结构,该半导体结构包括:基板;粘合层,设于基板上;重布线层,设于粘合层上;导通孔,贯穿重布线层和粘合层,重布线层与基板通过导通孔电性连接;其中,重布线层包括介电层和金属层,邻近导通孔的介电层的上表面和下表面为非平整表面。

在一些可选的实施方式中,导通孔的孔壁为非平整表面。

在一些可选的实施方式中,导通孔包括自下而上设置的种子层和导电柱。

在一些可选的实施方式中,导通孔还包括金属浸润层,种子层设于金属浸润层上。

在一些可选的实施方式中,贯穿粘合层的导通孔在朝向基板的方向上先逐渐膨胀再逐渐收缩。

在一些可选的实施方式中,贯穿粘合层的导通孔与基板定义出一容置空间,且金属浸润层充填于容置空间。

在一些可选的实施方式中,该半导体结构还包括:芯片,设于重布线层上;底部填充材,包覆芯片以及填充芯片与重布线层之间的缝隙。

在一些可选的实施方式中,导通孔的孔径小于20微米。

第二方面,本公开提供了一种半导体结构的制造方法,该方法包括:提供基板;在基板上设置粘合层;在粘合层上设置重布线层;提供第一模具,第一模具包括至少一个第一细柱体,第一细柱体的表面具有纳米研磨颗粒;压入第一模具,第一模具依次穿过重布线层和粘合层;移除第一模具,以定义出贯穿重布线层和粘合层的导通孔的预定位置;提供第二模具,第二模具包括至少一个第二细柱体;在第二细柱体上依次形成脱模层和种子层;压入第二模具,加热以使第二模具从脱模层脱模,再移除脱模层以将种子层留于预定位置;在种子层上填入导电材料以形成导电柱,得到电连接重布线层与基板的导通孔。

在一些可选的实施方式中,在移除第一模具,以定义出贯穿重布线层和粘合层的导通孔的预定位置之后,方法还包括:移除残留的粘合层,以使基板的焊垫露出。

在一些可选的实施方式中,在第二细柱体上依次形成脱模层和种子层,包括:在第二细柱体上依次形成脱模层、种子层以及金属浸润层;以及再移除脱模层以将种子层留于预定位置,包括:再移除脱模层以将金属浸润层和种子层留于预定位置。

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