[发明专利]快速检测曲轴表面清洁度的方法

权利要求书

1.一种快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，包括：

将待测曲轴放置在零件架上、并处于暗环境中；

操控紫外设备发出紫外线(6)、并通过所述紫外线(6)照射所述待测曲轴的表面，以使得所述待测曲轴的表面形成紫外照射区(7)；

获取紫外照射区(7)上形成的荧光反射区(8)的大小、形状、颜色、光强度、以及相对于所述紫外照射区(7)的占比；

根据所述荧光反射区(8)的大小、形状、颜色、光强度、以及相对于所述紫外照射区(7)的占比判断所述待测曲轴表面的清洁度状态、以及污染物的类型和构成。

2.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述紫外线(6)的波长设置为340-380纳米。

3.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述紫外线(6)的光强度至少设置为10cd/m²。

4.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，包括：

使用滤光组件对所述待测曲轴进行遮光、以使所述待测曲轴处于暗环境中。

5.根据权利要求4所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述滤光组件设置为偏振片。

6.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述紫外设备设置为紫外灯，所述紫外灯包括有握把(3)、灯头(5)和开关(4)，所述灯头(5)包括有多个紫外线发射源，通过所述开关(4)控制所述灯头(5)的紫外线发射强度。

7.根据权利要求6所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述紫外灯设置为可移动充电式。

8.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述紫外线(6)与所述紫外照射区(7)形成的夹角为30-60度。

9.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，所述待测曲轴包括有主轴颈(2)和连杆颈(1)，通过所述紫外线(6)分别照射所述主轴颈(2)和所述连杆颈(1)的表面。

10.根据权利要求1所述的快速检测曲轴表面清洁度的方法，其特征在于，还包括：

使用清洁剂、刷子和无尘布对所述待测曲轴进行清洁；

将清洁后的曲轴放置在零件架上、并处于暗环境中；

使用紫外设备对清洁后的曲轴进行二次紫外线照射、并判断清洁后的曲轴表面的清洁度状态，以及污染物的类型和构成。