[发明专利]检验系统及检验系统的控制方法在审
申请号: | 202110626198.4 | 申请日: | 2014-11-21 |
公开(公告)号: | CN113340924A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 郑宇哲;岩家和;陈世亮;邱志彬 | 申请(专利权)人: | 德律科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/044 | 分类号: | G01N23/044;G01N23/083;G01T7/10 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检验 系统 控制 方法 | ||
1.一种检验系统,其特征在于,所述检验系统包含:
放射源;
影像侦测器,其中所述放射源被驱动以沿着第一路径移动,以及所述影像侦测器被驱动以沿着第二路径移动,其中所述第一路径与所述第二路径朝着不同方向;以及
放置装置,其配置于所述放射源以及所述影像侦测器之间,其中所述放置装置包含:
承载器,其用来承载至少一个物体,并配置于平面上;
转动机构,其耦接于所述承载器并用来转动所述承载器,且所述转动机构用以控制所述承载器以沿着轴向转动,所述轴向位于所述平面上;及
移动机构,其耦接于所述转动机构并用来移动所述转动机构;
若所述放射源朝着第一方向放射X-ray射线,所述转动机构用来转动所述承载器至第二方向,使所述第一方向平行于所述第二方向。
2.如权利要求1所述的检验系统,其特征在于,所述影像侦测器用来侦测穿透所述物体的所述X-ray射线,以取得所述物体的侧面影像。
3.如权利要求1所述的检验系统,其特征在于,所述转动机构用来控制所述承载器以沿着所述轴向转动预设角度。
4.如权利要求3所述的检验系统,其特征在于,所述放射源朝着一方向放射X-ray射线,所述X-ray射线的所述方向垂直于所述轴向。
5.如权利要求3所述的检验系统,其特征在于,所述预设角度在三十度内。
6.如权利要求1所述的检验系统,其特征在于,所述放射源、所述影像侦测器、所述承载器以及所述转动机构分别被独立驱动。
7.如权利要求1所述的检验系统,其特征在于,所述放射源以及所述影像侦测器被相应驱动。
8.如权利要求1所述的检验系统,其特征在于,所述转动机构包含步进马达以及伺服马达的其中至少一个。
9.一种检验系统的控制方法,其特征在于,检验系统包含放射源、影像侦测器以及放置装置,所述放置装置配置于所述放射源以及所述影像侦测器之间,所述放置装置包含承载器以及转动机构,所述承载器配置于平面上,其中所述控制方法包含:
驱动所述放射源以沿着第一路径移动,以及驱动所述影像侦测器以沿着第二路径移动,其中所述第一路径与所述第二路径朝着不同方向;
由所述承载器以承载物体;
由所述转动机构以转动所述承载器,且所述转动机构用以控制所述承载器以沿着轴向转动,所述轴向位于所述平面上;
由所述放射源朝着第一方向放射X-ray射线;
由所述转动机构以转动所述承载器至第二方向,使所述第一方向平行于所述第二方向;以及
沿着移动机构以移动所述转动机构。
10.如权利要求9所述检验系统的控制方法,其特征在于,所述控制方法还包含:
由所述影像侦测器来侦测穿透所述物体的所述X-ray射以取得所述物体的侧面影像。
11.如权利要求9所述检验系统的控制方法,其特征在于,所述控制方法还包含:
由所述转动机构控制所述承载器以沿着所述轴向转动预设角度。
12.如权利要求11所述检验系统的控制方法,其特征在于,所述控制方法还包含:
由所述放射源朝着一方向放射X-ray射线,所述X-ray射线的所述方向垂直于所述轴向。
13.如权利要求11所述检验系统的控制方法,其特征在于,所述预设角度在三十度内。
14.如权利要求9所述检验系统的控制方法,其特征在于,所述控制方法还包含:
独立驱动所述放射源、所述影像侦测器、所述承载器以及所述转动机构。
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