[发明专利]检验系统及检验系统的控制方法

说明书

本发明公开了一种检验系统及检验系统的控制方法，该检验系统包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装置包含承载器及转动机构。放置装置配置于放射源以及影像侦测器之间，且转动机构耦接于承载器。放射源以及影像侦测器被驱动以沿着预设路径移动，承载器用来承载至少一个物体，转动机构用来转动承载器。根据本发明公开的检验系统可改善待测物体被阻挡物挡住原先用来检测上述物体的X‑ray射线，导致上述物体无法被X‑ray分层照相法所检测的问题。

本案为申请号：201410677044.8，申请日：2014年11月21日，专利名称：“检验系统及检验系统的控制方法”案件的分案。

技术领域

本发明涉及一种侦测系统及控制侦测系统的方法，且特别涉及一种检验系统及控制检验系统的方法。

背景技术

非破坏性检测(Non-destructive inspection,NDI)可在不伤及物体的结构或不需将上述物体大幅度地进行拆解的状况下，彻底地对上述物体进行检测。因此，NDI特别利于避免拆解物体以进行检测的方式所导致的时间、劳动力及成本的损失，并可进一步避免检测程序中可能对物体造成的损害。

在NDI技术中，X-ray分层照相法为一种影像撷取技术，其可产生待测物体的选定平面的内部剖面影像。一般而言，X-ray分层照相系统包含X-ray源、X-ray侦测器及固定基座，上述X-ray侦测器用来界定影像平面，上述固定基座用来将待测物体固定于X-ray源及X-ray侦测器之间。

然而，X-ray分层照相系统所能取得的影像受限于其自身的结构。举例而言，待测物体被放置于固定基座上，X-ray源在上述待测物体上方并放射X-ray，此X-ray会穿透待测物体。在此状况下，若另一物体放置于待测物体下方，上述另一物体会被待测物体阻挡。进一步而言，若另一物体实为上述待测物体的缺陷，例如另一物体与待测物体本为同一元件，然而此元件破损而分成上述两个部分(如：另一物体与待测物体)。此时，由于待测物体的缺陷被待测物体所阻挡，导致待测物体的缺陷将被X-ray分层照相系统忽略。

由此可见，上述现有的方式，显然仍存在不便与缺陷，而有待改进。为了解决上述问题，相关领域莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来仍未发展出适当的解决方案。

发明内容

发明内容旨在提供本公开内容的简化摘要，以使阅读者对本公开内容具备基本的理解。此发明内容并非本揭示内容的完整概述，且其用意并非在指出本发明实施例的重要/关键元件或界定本发明的范围。

本发明内容的一个目的是在提供一种检验系统及检验系统的控制方法，借以改善先前技术的问题。

为达上述目的，本发明内容的一个技术方面是关于一种检验系统，此检验系统包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装置包含放置装置及转动机构。放射源以及影像侦测器被驱动以沿着预设路径移动。放置装置配置于放射源以及影像侦测器之间。承载器用来承载至少一个物体。转动机构耦接于承载器并用来转动承载器。

优选地，上述技术方案中，若放射源朝着第一方向放射X-ray射线，转动机构用来转动承载器至第二方向，使第一方向平行于第二方向。

优选地，上述技术方案中，影像侦测器用来侦测穿透物体的X-ray射线，以取得物体的侧面影像。

优选地，上述技术方案中，转动机构用来控制承载器以沿着轴向转动预设角度。

优选地，上述技术方案中，放射源朝着一方向放射X-ray射线，X-ray射线的方向垂直于轴向。

优选地，上述技术方案中，预设角度在三十度内。

优选地，上述技术方案中，放置装置还包含：移动机构，其耦接于转动机构并用来移动转动机构。

优选地，上述技术方案中，放射源、影像侦测器、承载器以及转动机构分别被独立驱动。