[发明专利]位姿获取方法及装置和电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种位姿获取方法，其特征在于，包括：

获取拍摄图像中位于搜索线段上的若干采样点；其中，所述搜索线段经过所述拍摄图像中目标物体的投影轮廓点，所述投影轮廓点位于所述目标物体的投影轮廓；

获取所述采样点的属性信息，以及获取所述采样点的参考权重；其中，所述属性信息表示所述采样点属于所述目标物体的可能性，所述属性信息包括：所述采样点属于所述目标物体的第一概率值；

基于所述采样点的所述属性信息和所述参考权重，构建目标函数；

基于所述目标函数，得到所述拍摄图像中所述目标物体的位姿参数；

其中，所述获取所述采样点的参考权重，包括：

对于每条所述搜索线段，将所述若干采样点分别作为当前点，在所述当前点的参考概率差值满足第一条件的情况下，将所述当前点作为候选点，并选取预测代价值满足第二条件的候选点作为目标点，得到搜索结果，其中，所述目标点用于表示所述目标物体的物体轮廓点，其中，所述当前点的参考概率差值为与所述当前点具有预设位置关系的两个所述采样点的所述第一概率值之差，所述预测代价值包括第一代价值和第二代价值中至少一者，所述第一代价值与所述候选点的预测概率值相关，所述第二代价值与所述候选点至所述搜索线段上的投影轮廓点的第二距离相关；

基于所述搜索结果，分别获取所述搜索线段上的所述若干采样点的权重信息；其中，所述权重信息包括第一权重和第二权重中至少一者，所述第一权重与所述目标点的预测概率值相关，所述预测概率值表示所述采样点作为所述物体轮廓点的可能性，且所述第二权重与所述目标点至所述采样点的第一距离相关；

基于所述权重信息，得到所述采样点的参考权重。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述选取预测代价值满足第二条件的候选点作为所述目标点之前，所述方法还包括：

过滤所述预测概率值满足第三条件的候选点。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设位置关系为与所述当前点相邻；

和/或，所述第二条件包括所述预测代价值最小；

和/或，所述第一代价值与所述候选点的预测概率值负相关，且所述第二代价值与所述第二距离正相关。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述权重信息包括所述第一权重；所述基于所述搜索结果，分别获取所述搜索线段上的所述若干采样点的权重信息，包括：

在所述搜索结果包括搜索到所述目标点的情况下，基于所述目标点的预测概率值确定所述采样点的第一权重，其中，所述第一权重与所述目标点的预测概率值正相关；

和/或，在所述搜索结果包括未搜索到所述目标点的情况下，将所述第一权重确定为第一数值；其中，所述第一数值为在所述搜索结果包括搜索到所述目标点的情况下所述第一权重的下限值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述权重信息包括所述第二权重；所述基于所述搜索结果，分别获取所述搜索线段上的所述若干采样点的权重信息，包括：

在所述搜索结果包括搜索到所述目标点的情况下，基于所述采样点对应的所述第一距离确定所述采样点的第二权重，其中，所述第二权重与所述第一距离负相关；

和/或，在所述搜索结果包括未搜索到所述目标点的情况下，将所述第二权重确定为第二数值；其中，所述第二数值为在所述搜索结果包括搜索到所述目标点的情况下所述第二权重的上限值。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述权重信息包括第一权重和第二权重，且所述第一权重、所述第二权重均与所述参考权重正相关。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述属性信息包括：所述采样点属于所述目标物体的第一概率值和第一可信度，以及所述采样点不属于所述目标物体的第二概率值和第二可信度；所述基于所述采样点的所述属性信息和所述参考权重，构建目标函数，包括：

获取所述第一可信度与所述第一概率值的第一积以及所述第二可信度与所述第二概率值的第二积，并基于所述第一积和第二积之和，得到所述采样点的联合概率值；

基于各个所述采样点的参考权重对所述联合概率值的加权结果，得到目标函数。