[发明专利]半桥电路性能测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种半桥电路性能测试系统，包括用于接入信号的信号输入单元、继电器矩阵单元、用于测试半桥电路输出波形峰值的峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元、用于建立并联电路的功率电阻、控制端，继电器矩阵单元分别与信号输入单元、峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元连接，功率电阻切换单元根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，控制功率电阻与上MOS管或下MOS管并联。在半桥电路工作时，根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，采用功率电阻、峰值测试单元、频率测试单元的协调运作进行MOS管的导通电阻的测量，提高了测试效率，解决了工作时无法测量MOS管的问题。

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种半桥电路性能测试系统及方法。

背景技术

目前，随着科技的日益更新，电子产品的集成度越来越高，功能性也越来越强大，在脉冲宽度调制中，半桥电路发挥着重要的作用。半桥电路由两个功率开关器件组成，它们以图腾柱的形式连接在一起，并进行输出，提供方波信号，需要对其进行测试来验证功能。

但是，现有的半桥电路测试存在以下缺陷：

1、传统测试系统是通过示波器查看半桥输出波形，该方式测试测量时间长，效率低；

2、半桥电路工作时，无法测量MOS管的导通电阻。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种半桥电路性能测试系统，其能解决测试效率低的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种半桥电路性能测试系统，包括用于接入信号的信号输入单元、用于将待测信号切入不同测试单元的继电器矩阵单元、用于测试半桥电路输出波形峰值的峰值测试单元、用于测试半桥电路输出波形频率的频率测试单元、用于切换功率电阻与半桥MOS管连接方式的功率电阻切换单元、网口通信单元、用于建立并联电路的功率电阻、控制端，所述继电器矩阵单元分别与所述信号输入单元、峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元连接，所述峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元分别与所述网口通信单元连接，所述控制端分别与所述峰值测试单元、频率测试单元、网口通信单元连接，所述功率电阻切换单元根据半桥电路的上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，控制所述功率电阻与上MOS管或下MOS管并联。

进一步地，所述半桥电路性能测试系统还包括电阻测量单元，所述电阻测量单元与所述功率电阻切换单元连接并测量所述功率电阻切换单元中的电阻值。

进一步地，所述半桥电路性能测试系统还包括电源单元，所述电源单元分别与所述继电器矩阵单元、峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元连接。

一种半桥电路性能测试方法，应用于半桥电路性能测试系统，包括以下步骤：

初始检测步骤：检测功率电阻切换单元中的电阻阻值，使半桥电路处于工作状态，峰值测试单元检测并生成半桥电路的输出波形的峰值，设定半桥电路的输出波形的峰值为V1，电阻切换单元中的电阻阻值为R；

初始并联步骤：将功率电阻与半桥电路上的下MOS管并联；

关闭检测步骤：检测半桥电路上的下MOS管是否处于关闭状态，若是进行下一步；

开启检测步骤：检测半桥电路上的上MOS管是否处于打开状态，若是进行下一步；

波形峰值测量步骤：半桥电路上的上MOS管与功率电阻串联进行分压，频率测试单元运作并生成半桥电路的输出波形峰值V2；

上MOS阻值测量步骤：控制端进行数据分析，根据公式[(V1-V2)/V2]*R计算出上MOS管的导通电阻R1。