[发明专利]一种高精度试样研磨和抛光装置

权利要求书

1.一种高精度试样研磨和抛光装置，其特征在于：包括底座(1)以及设置于底座(1)上的操作台(2)和研磨池(3)，所述操作台(2)包括升降机构(4)，所述升降机构(4)的移动端连接有定位支架(5)，所述定位支架(5)上安装有用于夹固试样的夹紧机构(6)；所述研磨池(3)设置在夹紧机构(6)下方，研磨池(3)内设有研磨机构(7)，所述研磨机构(7)包括驱动电机(8)以及研磨盘(9)，所述研磨盘(9)设置在研磨池(3)中，所述驱动电机(8)设置在底座(1)底部，驱动电机(8)的电机轴通过联轴器连接有联动轴(10)，所述联动轴(10)贯穿底座(1)用于研磨盘(9)联动连接。

2.根据权利要求1所述的一种高精度试样研磨和抛光装置，其特征在于：所述升降机构(4)包括安装架(11)、丝杠(12)以及转盘(13)，所述安装架(11)包括背板(14)、对称设置于背板(14)两侧的侧板(15)以及设置于两个侧板(15)顶部的顶板(16)，所述底座(1)上安装有丝杠螺母(17)，所述丝杠(12)的底端与丝杠螺母(17)相配合，所述丝杠(12)的顶端贯穿顶板(16)并与转盘(13)相连接；所述定位支架(5)上设有与丝杠(12)相配合的支架螺孔(18)，并且定位支架(5)的左右两侧分别与两个侧板(15)的内壁紧密贴合。

3.根据权利要求2所述的一种高精度试样研磨和抛光装置，其特征在于：所述转盘(13)上端面靠近边缘的部位设有操作杆(19)，所述操作杆(19)焊接于转盘(13)上或通过销轴转动设置于转盘(13)上。

4.根据权利要求1所述的一种高精度试样研磨和抛光装置，其特征在于：所述夹紧机构(6)包括夹紧座(20)、第一夹块(21)、第一手柄(22)、第二夹块(23)以及第二手柄(24)，所述夹紧座(20)安装于定位支架(5)底部，所述夹紧座(20)靠近研磨池(3)的一侧开设有用于放置试样的矩形容纳槽(25)，矩形容纳槽(25)相邻的两个侧壁上分别开设有第一滑槽(26)和第二滑槽(27)，并且第一滑槽(26)和第二滑槽(27)设置在各自侧壁上远离交界线的一端，所述第一夹块(21)和第二夹块(23)分别滑动设置于第一滑槽(26)和第二滑槽(27)中，并且第一夹块(21)和第二夹块(23)上分别开设有第一螺孔(28)和第二螺孔(29)，所述第一滑槽(26)和第二滑槽(27)内分别开设有第一通孔(49)和第二通孔(50)，所述第一手柄(22)和第二手柄(24)分别贯穿第一通孔(49)和第二通孔(50)，并且第一手柄(22)内端和第二手柄(24)的内端分别设有与第一螺孔(28)相配合的第一螺纹部(30)以及与第二螺孔(29)相配合的第二螺纹部(31)。

5.根据权利要求4所述的一种高精度试样研磨和抛光装置，其特征在于：所述第一螺孔(28)的直径大于第一通孔(49)的直径，第二螺孔(29)的直径大于第二通孔(50)的直径，第一螺纹部(30)的内端设有用于抵在第一滑槽(26)内壁上的第一限位台阶(32)，第二螺纹部(31)的内端设有用于抵在第二滑槽(27)内壁上的第二限位台阶(33)，所述第一手柄(22)和第二手柄(24)上分别开设有第一环形卡槽(34)和第二环形卡槽(35)，第一环形卡槽(34)和第二环形卡槽(35)上分别嵌设有第一卡簧(36)和第二卡簧(37)，并且第一卡簧(36)和第二卡簧(37)的内侧分别抵在夹紧座(20)上对应的外壁上。

6.根据权利要求1所述的一种高精度试样研磨和抛光装置，其特征在于：所述定位支架(5)的底部开设有竖向滑槽(38)，所述夹紧座(20)滑动设置于竖向滑槽(38)中，夹紧座(20)的内端开设有第三螺孔(39)，所述竖向滑槽(38)的内端开设有第三通孔(40)，第三通孔(40)上插接有第三手柄(41)，第三手柄(41)的内端设有与第三螺孔(39)相适配的第三螺纹部(42)；所述第三螺孔(39)的直径大于第三通孔(40)的直径，第三螺纹部(42)的内端设有第三限位台阶(43)，所述第三手柄(41)上设有第三环形卡槽(44)，第三环形卡槽(44)上嵌设有第三卡簧(45)，第三卡簧(45)的下侧抵在定位支架(5)的顶壁上。