[发明专利]X线图像的散射修正方法、装置、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种X线图像的散射修正方法，其特征在于，包括：

获取采用目标曝光参数对扫描对象进行X线束扫描得到的投影图像数据；

根据曝光参数与散射核函数的映射关系，确定对应于所述目标曝光参数的目标散射核函数；

根据所述目标散射核函数计算所述投影图像数据包含的散射分布数据；

根据所述散射分布数据对所述投影图像数据进行修正，得到对应于所述投影图像数据的修正图像数据。

2.根据权利要求1所述的散射修正方法，其特征在于，根据曝光参数与散射核的映射关系，确定对应于所述目标曝光参数的目标散射核函数，包括：

根据亮场图像数据和所述投影图像数据估计所述扫描对象的厚度，所述亮场图像数据和所述投影图像数据采用相同的目标曝光参数得到；

根据与所述厚度相关的曝光参数与散射核的映射关系，确定所述目标散射核函数。

3.根据权利要求2所述的散射修正方法，其特征在于，还包括：

根据所述散射分布数据判断是否符合收敛条件，其中，所述收敛条件为以下至少之一：本轮迭代计算得到的散射分布数据与上轮迭代计算得到的散射分布数据的差异达到差异阈值、所述散射分布数据的计算次数达到次数阈值；

在判断结果为不符合所述收敛条件的情况下，根据所述亮场图像数据和所述修正图像数据重新估计所述扫描对象的厚度。

4.根据权利要求2所述的散射修正方法，其特征在于，估计所述扫描对象的厚度之前，还包括：

对所述亮场图像数据进行高斯低通滤波处理；

和/或，对所述投影图像数据进行高斯低通滤波处理。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的散射修正方法，其特征在于，还包括：

降采样所述亮场图像数据；

和/或，降采样所述投影图像数据。

6.根据权利要求5所述的散射修正方法，其特征在于，还包括：

对所述修正图像数据进行升采样，以使经过升采样的修正图像数据的分辨率达到分辨率阈值。

7.一种X线图像的散射修正装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取采用目标曝光参数对扫描对象进行X线束扫描得到的投影图像数据；

确定模块，用于根据曝光参数与散射核函数的映射关系，确定对应于所述目标曝光参数的目标散射核函数；

计算模块，用于根据所述目标散射核函数计算所述投影图像数据包含的散射分布数据；

修正模块，用于根据所述散射分布数据对所述投影图像数据进行修正，得到对应于所述投影图像数据的修正图像数据。

8.根据权利要求7所述的散射修正装置，其特征在于，所述确定模块包括：

估计单元，用于根据亮场图像数据和所述投影图像数据估计所述扫描对象的厚度，所述亮场图像数据和所述投影图像数据采用相同的目标曝光参数得到；

确定单元，用于根据与所述厚度相关的曝光参数与散射核的映射关系，确定所述目标散射核函数。

9.根据权利要求8所述的散射修正装置，其特征在于，还包括：

判断模块，用于根据所述散射分布数据判断是否符合收敛条件，其中，所述收敛条件为以下至少之一：本轮迭代计算得到的散射分布数据与上轮迭代计算得到的散射分布数据的差异达到差异阈值、所述散射分布数据的计算次数达到次数阈值；

在判断结果为不符合所述收敛条件的情况下，调用所述估计单元以根据所述亮场图像数据和所述修正图像数据重新估计所述扫描对象的厚度。

10.根据权利要求8所述的散射修正装置，其特征在于，估计所述扫描对象的厚度之前，还包括：

滤波模块，用于对所述亮场图像数据进行高斯低通滤波处理，和/或对所述投影图像数据进行高斯低通滤波处理。