[发明专利]X线图像的散射修正方法、装置、电子设备、存储介质

说明书

本发明公开了X线图像的散射修正方法、装置、电子设备、存储介质。该方法包括：获取采用目标曝光参数对扫描对象进行X线束扫描得到的投影图像数据；根据曝光参数与散射核函数的映射关系，确定对应于所述目标曝光参数的目标散射核函数；根据所述目标散射核函数计算所述投影图像数据包含的散射分布数据；根据所述散射分布数据对所述投影图像数据进行修正，得到对应于所述投影图像数据的修正图像数据。从而能够减小因散射核函数不适合曝光参数导致的散射分布计算误差，提高散射校正的精确度以及有效性。

技术领域

本发明涉及医疗技术领域，尤其涉及X线图像的散射修正方法、装置、电子设备、存储介质。

背景技术

X射线成像技术广泛应用在医疗成像领域。应用X射线成像技术的X线设备可以拍摄到扫描对象的X线图像，X线图像是X射线束穿透被检体某一部位的不同密度和厚度组织结构后的投影数据总和，是该穿透路径上各层X射线束投影相互叠加在一起的影像。由于X射线成像过程中存在散射干扰，会使X线图像产生杯状、遮挡、条状、不均匀和数值不精确等问题，降低X线图像的质量。因此需要对X线图像进行散射校正。

现有技术中，实现散射校正的一种方式是采用散射反卷积算法对X线图像进行散射校正，其基本原理就是利用事先计算出的笔形束的点扩散函数，也称散射核函数，确定投影图像中的散射分布，进而进行散射校正，但该方式中不同曝光参数采用相同的散射核函数，导致一些曝光参数下散射分布计算误差较大，经过散射校正的X线图像的质量较低，影响临床使用。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中散射分布计算误差较大，经过散射校正的X线图像的质量较低的缺陷，提供一种X线图像的散射修正方法、装置、电子设备、存储介质。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

第一方面，提供一种X线图像的散射修正方法，包括：

获取采用目标曝光参数对扫描对象进行X线束扫描得到的投影图像数据；

根据曝光参数与散射核函数的映射关系，确定对应于所述目标曝光参数的目标散射核函数；

根据所述目标散射核函数计算所述投影图像数据包含的散射分布数据；

根据所述散射分布数据对所述投影图像数据进行修正，得到对应于所述投影图像数据的修正图像数据。

可选地，根据曝光参数与散射核的映射关系，确定对应于所述目标曝光参数的目标散射核函数，包括：

根据亮场图像数据和所述投影图像数据估计所述扫描对象的厚度，所述亮场图像数据和所述投影图像数据采用相同的目标曝光参数得到；

根据与所述厚度相关的曝光参数与散射核的映射关系，确定所述目标散射核函数。

可选地，还包括：

根据所述散射分布数据判断是否符合收敛条件，其中，所述收敛条件为以下至少之一：本轮迭代计算得到的散射分布数据与上轮迭代计算得到的散射分布数据的差异达到差异阈值、所述散射分布数据的计算次数达到次数阈值；

在判断结果为不符合所述收敛条件的情况下，根据所述亮场图像数据和所述修正图像数据重新估计所述扫描对象的厚度。

可选地，估计所述扫描对象的厚度之前，还包括：

对所述亮场图像数据进行高斯低通滤波处理；

和/或，对所述投影图像数据进行高斯低通滤波处理。

可选地，还包括：

降采样所述亮场图像数据；

和/或，降采样所述投影图像数据。

可选地，还包括：