[发明专利]一种用于测试OTP型MCU及其测试方法

权利要求书

1.一种用于测试OTP型MCU，其特征在于，包括MCU本体；所述MCU本体包括状态机、CPU和解析模块；所述状态机通过解析模块与外部控制系统进行信息交互，所述状态机通过总线与CPU电性连接；所述CPU还与一外设电性连接；

其中，所述解析模块通过时钟线和数据线与外部控制系统连接，所述解析模块对外部控制系统传输的数据进行解析后传输至状态机，以及将状态机传输的数据解析后发送至外部控制系统；

所述状态机接收解析模块解析后的数据，进行相应状态转变和相关信号的控制；所述状态机的状态包括：初始态、空闲态、测试态、烧录态和控制态；

其中，所述状态机在测试态时，所述外部控制系统发送的数据传输至CPU作为运行指令进行测试；

所述状态机在烧录态时用于OTP的烧录，所述烧录数据包括测试时振荡器，参考电压的校准值以及厂商数据；

所述状态机的控制态用于控制配置寄存器的读写。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试OTP型MCU，其特征在于，所述状态机在MCU本体上电以及接收到外部控制系统传输的复位命令时复位到初始态，所述状态机在初始态时不会控制任何信号，当接收到外部控制系统发送特殊序列时激活状态机进入空闲态；所述特殊序列为一段8bit的数据，所述数据的内容为MCU本体相关信息转换的ASCII码。

3.根据权利要求1所述的一种用于测试OTP型MCU，其特征在于，所述时钟线用于传输时钟信号，所述数据线用于传输数据信息；所述解析模块采集时钟线保持为高时的数据，当数据线在时钟线为高时改变，则是复位和返回两条命令。

4.根据权利要求1-3任意一所述的一种用于测试OTP型MCU的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：外部控制系统发送数据进行验证；

步骤二：通过验证后，状态机处于空闲态，外部控制系统先发送返回命令，再发送控制命令，在状态机控制态设置配置字；

步骤三：外部控制系统先发送返回命令，再发送测试命令，状态机转到测试态，外部控制系统开始传输测试数据进行测试，若测试未完成，修改配置字进行其他测试则返回步骤二；若测试完成则进入步骤四；

步骤四：外部控制系统先发送返回命令，再发送烧录命令，状态机转到烧录态，外部控制系统烧录需要的数据；

步骤五：结束测试。