[发明专利]一种用于测试OTP型MCU及其测试方法

说明书

本发明公开了一种用于测试OTP型MCU及其测试方法。本发明中：状态机通过解析模块与外部控制系统进行信息交互，状态机通过总线与CPU电性连接；状态机接收解析模块解析后的数据，进行相应状态转变和相关信号的控制；状态机在测试态时，外部控制系统发送的数据传输至CPU作为运行指令进行测试；状态机在烧录态时用于OTP的烧录，状态机的控制态用于控制配置寄存器的读写。本发明通过在测试时外部控制系统与MCU进行通信，通过特定命令控制状态机，间接控制CPU运行程序，运行的程序通过与外部控制系统通信进行传输，可以根据需要随时修改；并且在测试完成后，可以将相关信息烧录进OTP，减轻测试时重新编排测试程序的时间和精力。

技术领域

本发明属于芯片技术领域，特别是涉及一种用于测试OTP型MCU及其测试方法。

背景技术

OTP型MCU由于价格低廉十分广泛地应用在消费电子市场，应用广泛，市场前景广阔。但是由于OTP只能写入一次的特性使得对OTP型MCU的测试存在许多问题。如果将测试程序写入OTP的存储空间，那么这些空间就无法使用，因而实际可使用空间比OTP的空间小，造成空间浪费。而且如果CPU跑飞有可能跑到测试程序占用的空间，导致整个系统出现严重错误。此外，对于MCU来说，测试时需要测试各种各样的功能及参数，因此测试程序及参数需要多种，这样就会导致占用更多的OTP空间，这样能使用的空间就更少了。现在一般采用在OTP中写入测试程序，通过外部控制系统与MCU的通信传入测试所需要的各种参数。现有方案中存在着占用大量OTP存储空间，需要针对测试重新编写测试程序，不仅要考虑测试功能的完备性，还要考虑尽可能少的占用OTP的存储空间，而且还要考虑外部控制系统传入各种参数的方式和时间，这些工作不仅十分耗费时间和精力，而且容易出错，出错后还不易排查，容易导致整体时间增加，成本增加。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于测试OTP型MCU及其测试方法，通过设置解析模块和状态机，在测试时外部控制系统与MCU进行通信，通过特定命令控制状态机，间接控制CPU运行程序，运行的程序通过与外部控制系统通信进行传输，可以根据需要随时修改，而不是测试内容固化在OTP中无法轻易改变；并且在测试完成后，可以将相关信息烧录进OTP，减轻测试时重新编排测试程序的时间和精力，不必为节省OTP空间或设置参数耗费心力。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明为一种用于测试OTP型MCU，包括MCU本体；所述MCU本体包括状态机、CPU和解析模块；所述状态机通过解析模块与外部控制系统进行信息交互，所述状态机通过总线与CPU电性连接；所述CPU还与一外设电性连接；其中，所述解析模块通过时钟线和数据线与外部控制系统连接，所述解析模块对外部控制系统传输的数据进行解析后传输至状态机，以及将状态机传输的数据解析后发送至外部控制系统；所述状态机接收解析模块解析后的数据，进行相应状态转变和相关信号的控制；所述状态机的状态包括：初始态、空闲态、测试态、烧录态和控制态；其中，所述状态机在测试态时，所述外部控制系统发送的数据传输至CPU作为运行指令进行测试；所述状态机在烧录态时用于OTP的烧录，所述烧录数据包括测试时振荡器，参考电压的校准值以及厂商数据；所述状态机的控制态用于控制配置寄存器的读写。

优选地，所述状态机在MCU本体上电以及接收到外部控制系统传输的复位命令时复位到初始态，所述状态机在初始态时不会控制任何信号，当接收到外部控制系统发送特殊序列时激活状态机进入空闲态；所述特殊序列为一段8bit的数据，所述数据的内容为MCU本体相关信息转换的ASCII码。

优选地，所述时钟线用于传输时钟信号，所述数据线用于传输数据信息；所述解析模块采集时钟线保持为高时的数据，当数据线在时钟线为高时改变，则是复位和返回两条命令。

一种用于测试OTP型MCU的测试方法，包括以下步骤：

步骤一：外部控制系统发送数据进行验证；