[发明专利]存储器装置测试及相关联的方法、装置和系统

权利要求书

1.一种测试存储器装置的方法，包括：

从所述存储器装置的存储器阵列的多个存储器地址中读取；

将所述多个存储器地址中的每个存储器地址标识为通过或未通过；

对于每个标识的未通过，将与所述标识的未通过相关联的数据存储在所述存储器装置的缓冲器中；以及

将与每个标识的未通过相关联的数据中的至少一些数据传送到所述存储器装置外部的测试器，而不将与每个标识的通过相关联的地址数据传送到所述测试器。

2.根据权利要求1所述的方法，其中存储与每个标识的未通过相关联的所述数据包括对于每个标识的未通过，存储未通过指示符位和标识所述标识的未通过的每个未通过位的未通过数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其中传送包括将所述未通过指示符位和所述未通过数据从所述缓冲器传送到所述测试器。

4.根据权利要求2所述的方法，进一步包括对于每个标识的通过，存储通过指示符位和指示连续标识的通过的数量的计数。

5.根据权利要求4所述的方法，进一步包括将所述通过指示符位和所述计数从所述缓冲器传送到所述测试器。

6.根据权利要求1所述的方法，其中存储与每个标识的未通过相关联的所述数据包括对于每个标识的未通过，存储所述标识的未通过的存储器地址。

7.根据权利要求6所述的方法，其中传送包括将所述标识的未通过的所述存储器地址从所述缓冲器传送到所述测试器。

8.根据权利要求1所述的方法，其中存储与每个标识的未通过相关联的所述数据包括对于每个标识的未通过，存储标识所述标识的未通过的每个未通过位的未通过信息。

9.根据权利要求8所述的方法，其中传送包括将通过指示符位或未通过指示符位以及存储在所述缓冲器中的所述未通过信息的至少下一位传送到所述测试器。

10.一种装置，包括：

存储器阵列；

缓冲器，所述缓冲器耦合到所述存储器阵列；以及

电路，所述电路耦合到所述存储器阵列和所述缓冲器并且被配置为：

从所述存储器阵列的多个存储器地址中读取数据；

将所述读取的数据与已知的测试数据进行比较；

响应于所述比较，将所述多个存储器地址中的每个存储器地址标识为通过或未通过；

对于每个标识的未通过，将与所述标识的未通过相关联的数据存储在所述缓冲器中；以及

将与每个标识的未通过相关联的数据中的至少一些数据传送到外部测试器，而不将与每个标识的通过相关联的地址数据传送到所述外部测试器。

11.根据权利要求10所述的装置，其中所述缓冲器包括先进先出FIFO缓冲器。

12.根据权利要求10所述的装置，其中所述电路进一步被配置为：

对于每个标识的未通过，存储未通过指示符位和标识所述标识的未通过的每个未通过位的未通过信息；

将所述未通过指示符位和所述未通过信息从所述缓冲器传送到所述外部测试器；

对于每个标识的通过，存储通过指示符位和指示连续标识的通过的数量的计数；以及

将所述通过指示符位和所述计数从所述缓冲器传送到所述外部测试器。

13.根据权利要求10所述的装置，其中所述电路进一步被配置为：

对于每个标识的未通过，存储所述标识的未通过的存储器地址；以及

将所述标识的未通过的所述存储器地址从所述缓冲器传送到所述外部测试器。

14.根据权利要求10所述的装置，其中所述缓冲器包括串行缓冲器。