[发明专利]分光结构及包含该结构的微粒检测装置及其检测方法

权利要求书

1.分光结构，其特征在于：所述分光结构包括

至少一第一镜体，所述第一镜体用于接收光信号并将所述光信号分离为第一光信号和第二光信号；

第一光学组件，所述第一光学组件设置于所述第一镜体的出射端，所述第一光学组件用于接收所述第一光信号并将所述第一光信号分离成不同方向及不同光谱的第一待检荧光信号；

至少一第二镜体，所述第二镜体用于接收所述第二光信号并将所述第二光信号反射；

第二光学组件，所述第二光学组件用于接收反射的所述第二光信号并分离为不同方向及不同光谱的第二待检荧光信号。

2.如权利要求1所述的分光结构，其特征在于：所述第一光学组件包括至少一第三镜体以及第四镜体，其中

所述第三镜体为单个时，所述第四镜体位于所述第三镜体的出射端；

所述第三镜体为多个时，所述第四镜体位于末端第三镜体的出射端。

3.如权利要求1所述的分光结构，其特征在于：所述第二光学组件包括至少一第五镜体以及第六镜体，其中

所述第五镜体为单个时，所述第六镜体位于所述第五镜体的出射端；

所述第五镜体为多个时，所述第六镜体位于末端第五镜体的出射端。

4.如权利要求2所述的分光结构，其特征在于：在所述第一光学组件的出射端设置第一滤光模组。

5.如权利要求3所述的分光结构，其特征在于：在所述第二光学组件的出射端设置第二滤光模组。

6.微粒检测装置，其特征在于：所述微粒检测装置包括光源、流动室、如权利要求1～5任意一项所述的分光结构以及至少一探测器，其中

所述光源用于发射光束；

所述流动室用于限制颗粒流动，所述颗粒在所述流动室被所述光束照射产生荧光光束；

所述探测器用于接收从所述分光结构出射的第一待检荧光信号以及第二待检荧光信号进行检测。

7.如权利要求6所述的微粒检测装置，其特征在于：所述分光结构设置于所述流动室的出射端。

8.如权利要求6所述的微粒检测装置，其特征在于：所述分光结构的一部分设置于所述流动室的入射端，所述分光结构的另一部分设置于所述流动室的出射端。

9.一种微粒检测装置的检测方法，其特征在于包括以下步骤：

光源输出光束；

所述光束照射于流经流动室的微粒并产生荧光信号，所述荧光信号由所述分光结构的一部分分离为第一荧光信号和第二荧光信号；

所述分光结构的另一部分接收所述第一荧光信号和所述第二荧光信号并由检测器检测。

10.一种微粒检测装置的检测方法，其特征在于包括以下步骤：

光源输出光束；

所述光束由分光结构的一部分分离为第一光信号和第二光信号，所述第一光信号和所述第二光信号照射流经流动室的微粒形成第一荧光信号和第二荧光信号；

所述分光结构的另一部分接收所述第一荧光信号和第二荧光信号并由检测器检测。