[发明专利]分光结构及包含该结构的微粒检测装置及其检测方法

说明书

本发明涉及分光结构及包含该结构的微粒检测装置及其检测方法，包括分光结构,分光结构包括第一镜体，第一镜体用于将光信号分离为第一光信号和第二光信号；第一光学组件设置于第一镜体的出射端，第一光学组件用于将第一光信号分离成第一待检荧光信号；第二镜体，第二镜体用于将第二光信号反射；第二光学组件，第二光学组件用于接收反射的第二光信号并分离为不同方向及不同光谱的第二待检荧光信号。本发明还涉及微粒检测装置，微粒检测装置包括光源、流动室、分光结构以及探测器。通过设置分光结构为不同波长的荧光在各自荧光通道内被对应的探测器所检测，使用户使用不同的荧光素时不需要频繁更换滤光片，减少了激光器的使用数量并增加了检测参数。

技术领域

本发明涉及光学设备技术领域，尤其涉及分光结构及包含该结构的微粒检测装置及其检测方法。

背景技术

目前，在进行微粒检测时，待检测的微粒通常需要携带荧光素，如异硫氰荧光素(FITC)、藻红蛋白(PE)、别藻红蛋白(PECY5)等，这些荧光素在被激光激发后会发出不同波长的荧光，通过光电探测器来检测每段荧光的强度。理论上每一种荧光通过选择合适的滤光片可被相应的光电探测器检测，而不受其他荧光的干扰。但目前的荧光染料都具有宽发射谱性质，尽管它们的发射峰各有不同，但发射谱范围有一定的重叠，因此相邻的探测器会检测到彼此的荧光信号，从而影响了检测结果的准确性。为了保证每个探测器能够接收到特定波长的荧光并且提高检测结果的准确性，避免受其他荧光的干扰，在荧光探测光路中会采用光学元件，但采用上述光学元件之后导致激光器激发出的荧光通道数量有限，而为了检测不同荧光通道中不同波长的荧光，需要根据荧光素更换光学元件或者切换不同波长的激光器，无形之中增加检测成本。同样的，上述光学元件的参数特性使得制造出后即光学特性就被固定，因此检测装置为了具备多种荧光的探测能力需要具备较多荧光探测参数通道，而每一组荧光参数通道一旦配置即被固定，若需要改变通道荧光通过的种类和带宽就需要改变光学元件的配置方案并且更换光学元件。

发明内容

针对上述现有技术的缺点，本发明的目的是提供分光结构及包含该结构的微粒检测装置及其检测方法，以解决现有技术中的一个或多个问题。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

分光结构,所述分光结构包括

至少一第一镜体，所述第一镜体用于接收光信号并将所述光信号分离为第一光信号和第二光信号；

第一光学组件，所述第一光学组件设置于所述第一镜体的出射端，所述第一光学组件用于接收所述第一光信号并将所述第一光信号分离成不同方向及不同光谱的第一待检荧光信号；

至少一第二镜体，所述第二镜体用于接收所述第二光信号并将所述第二光信号反射；

第二光学组件，所述第二光学组件用于接收反射的所述第二光信号并分离为不同方向及不同光谱的第二待检荧光信号。

进一步的，所述第一光学组件包括至少一第三镜体以及第四镜体，其中

所述第三镜体为单个时，所述第四镜体位于所述第三镜体的出射端；

所述第三镜体为多个时，所述第四镜体位于末端第三镜体的出射端。

进一步的，所述第二光学组件包括至少一第五镜体以及第六镜体，其中

所述第五镜体为单个时，所述第六镜体位于所述第五镜体的出射端；

所述第五镜体为多个时，所述第六镜体位于末端第五镜体的出射端。

进一步的，在所述第一光学组件的出射端设置第一滤光模组。

进一步的，在所述第二光学组件的出射端设置第二滤光模组。

微粒检测装置，所述微粒检测装置包括光源、流动室、上述述的分光结构以及至少一探测器，其中