[发明专利]一种分段控制的多晶硅制备方法有效
申请号: | 202110654366.0 | 申请日: | 2021-06-10 |
公开(公告)号: | CN113371717B | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 甘易武;高志明;鲍守珍;高承燕;郑连基;李延新;范晔;杨玉福 | 申请(专利权)人: | 青海亚洲硅业半导体有限公司 |
主分类号: | C01B33/035 | 分类号: | C01B33/035 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 杜朗宇 |
地址: | 810007 青*** | 国省代码: | 青海;63 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分段 控制 多晶 制备 方法 | ||
1.一种分段控制的多晶硅制备方法,其特征在于,包括如下内容:
在0h~20h,控制还原炉中温度由945℃~955℃提升至965℃~985℃,TCS:DCS的质量比由(93.5:6.5)~(94:6)调整至(95.2:4.8)~(95.8:4.2),TCS:H2的质量比由(1:0.09)~(1:0.11)调整至(1:0.045)~(1:0.055);
在21h~100h,控制还原炉中温度为965℃~985℃提升至995℃~1090℃,TCS:DCS的质量比由(95.2:4.8)~(95.8:4.2)调整至(97:3)~(97.5:2.5),或从21h起一直保持为(96.1:3.9)~(96.7:3.3),TCS:H2的质量比由(1:0.045)~(1:0.055)调整至(1:0.007)~(1:0.025);
在101h至反应结束,控制还原炉中温度为995℃~1050℃,TCS:DCS的质量比为(97.3:2.7)~(99.1:0.9),TCS:H2的质量比为(1:0.008)~(1:0.012);
反应温度或物料用量的变化经历的变化过程10次等比例梯度变化。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在0h~20h,控制还原炉中温度由950℃提升至970℃~980℃,TCS:DCS的质量比由93.7:6.3调整至95.5:4.5,TCS:H2的质量比由1:0.1调整至1:0.05;
在20h~100h,控制还原炉中温度为970℃~980℃提升至1000℃~1080℃,TCS:DCS的质量比由95.5:4.5调整至97.2:2.8,或从21h起一直保持为96.4:3.6,TCS:H2的质量比由1:0.05调整至(1:0.008)~(1:0.02);
在101h至反应结束,控制还原炉中温度为1000℃~1040℃,TCS:DCS的质量比为(97.3:2.7)~(99.1:0.9),TCS: H2的质量比为(1:0.009)~(1:0.01);
反应温度或物料用量的变化经历的变化过程10次等比例梯度变化。
3.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,先将TCS、DCS汽化后再通入还原炉。
4.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,将TCS、DCS、H2被加热至110~140℃再通入还原炉。
5.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,所述TCS为高纯TCS,所述DCS为高纯DCS。
6.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,所述还原炉为改良西门子法所使用的还原炉。
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