[发明专利]一种检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，用于检测晶粒，所述晶粒用于集成电路的设计中，所述晶粒为多位元的存储结构，每个位元对应的存储结构中包括用于重复烧录的目标器件，所述目标器件为熔丝或反熔丝；

所述方法包括：

对所述晶粒中位元对应的目标器件进行N次烧录；其中，所述N≥1且为整数；

获取进行N次烧录后的烧录结果；

将所述烧录结果输入至已训练的类神经网络模型中进行检测，得到检测结果，所述类神经网络模型用于检测所述晶粒是否合格。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取进行N次烧录后的烧录结果，包括：

检测每次烧录后所述晶粒中未烧断的目标器件；

获取每次烧录后未烧断的目标器件对应的位元数目。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述将所述烧录结果输入至已训练的类神经网络模型中进行检测，包括：

将N次未烧断的目标器件对应的位元数目输入至已训练的类神经网络模型中进行检测。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述已训练的类神经网络模型为根据进行标注后的数据集，对预先构建的类神经网络模型进行训练，得到的类神经网络模型，所述标注后的数据集为对采集的多个合格晶粒和不合格晶粒的前N次烧录结果进行标注后得到的数据集。

5.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述检测每次烧录后所述晶粒中未烧断的目标器件，包括：

通过读操作读取晶粒中位元的数据，根据读取的数据检测每次烧录后所述晶粒中未烧断的目标器件。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述通过读操作读取晶粒中位元的数据，根据读取的数据检测每次烧录后所述晶粒中未烧断的目标器件，包括：

所述目标器件为反熔丝，且在通过读操作读取晶粒中位元的数据为1时，判定对应的位元中的反熔丝烧断；

所述目标器件为反熔丝，且在通过读操作读取晶粒中位元的数据为0时，判定对应的位元中的反熔丝未烧断。

7.根据权利要求1至6任一项所述的检测方法，其特征在于，所述对所述晶粒中位元对应的目标器件进行N次烧录，包括：

通过施加烧录控制电压，对所述晶粒中位元对应的目标器件进行N次烧录。

8.一种检测装置，其特征在于，用于检测晶粒，所述晶粒用于集成电路的设计中，所述晶粒为多位元的存储结构，每个位元对应的存储结构中包括用于重复烧录的目标器件，所述目标器件为熔丝或反熔丝；

所述装置包括：

烧录模块，用于对所述晶粒中位元对应的目标器件进行N次烧录；其中，所述N≥1且为整数；

获取模块，用于获取进行N次烧录后的烧录结果；

检测模块，用于将所述烧录结果输入至已训练的类神经网络模型中进行检测，得到检测结果，所述类神经网络模型用于检测所述晶粒是否合格。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。