[发明专利]一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 202110676912.0 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113364408B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 孙长江;吴芳和;俞琨;王伟祥;翁凯雷;杨宏毅;李兴龙;沈钱兰;王士涛;李彩霞 申请(专利权)人: 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司;江苏中信博新能源科技股份有限公司
主分类号: H02S20/32 分类号: H02S20/32
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 代理人: 杨用玲
地址: 310014*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 跟踪 支架 阵列 运行 精度 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法,光伏跟踪支架阵列包括多个光伏跟踪支架,每个光伏跟踪支架均设置光伏组件,其特征在于,包括:

光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据,其中,一组光伏跟踪支架正面辐照数据包括同一时间内多个所述光伏跟踪支架的正面辐照数据;

基于所述正面辐照数据,获取所述光伏跟踪支架的正面辐照值;

根据所述光伏跟踪支架的正面辐照值,计算所述光伏跟踪支架阵列的运行精度,以对所述光伏跟踪支架阵列进行校正;其中,所述光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据包括:

在设定测量时间和天气下,对多组光伏跟踪支架进行间隔设定时间测量,采集多组正面辐照数据;

其中,间隔得到n组正面辐照数据,每组内m个正面辐照数据,总共m×n个辐照数据;其中,所述计算所述光伏跟踪支架阵列的运行精度包括:

以每组光伏跟踪支架正面辐照数据中的最大辐照值作为基准值,计算各组光伏跟踪支架辐照偏差,根据辐照偏差调整每组光伏跟踪支架角度;

其中,所述辐照偏差的计算公式为:

其中, m为所述光伏跟踪支架阵列内的光伏跟踪支架的数量;为第i组第j个光伏跟踪支架的正面辐射强度;为基准值即每组m个正面辐照值中的最大辐照值;:第i组光伏跟踪支架阵列的辐照偏差;其中,对每组光伏跟踪支架阵列的辐照偏差求平均,得到平均辐照偏差δ:

其中,n为多组正面辐照数据的组数;

根据每组光伏跟踪支架阵列的辐照偏差和平均辐照偏差,判断是否修正所述光伏跟踪支架阵列的运行角度。

2.根据权利要求1所述的一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法,其特征在于,所述判断是否修正所述光伏跟踪支架阵列的运行角度,包括:

所述判断是否修正所述光伏跟踪支架阵列的运行角度包括根据平均辐照偏差δ和辐照偏差的数值,

如测得,对第i组光伏跟踪支架进行角度修正;

如测得,对第i组光伏跟踪支架立即进行角度修正;

如测得,对光伏跟踪支架阵列内部的光伏跟踪支架分别进行角度修正。

3.根据权利要求2所述的一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法,其特征在于,还包括:

当修正所述光伏跟踪支架阵列的运行精度时,基于所述辐照偏差和所述平均辐照偏差的偏差值,对所述光伏跟踪支架进行角度修正,具体包括:

将所述光伏跟踪支架调整至水平位置,通过水平测量装置确认所述光伏跟踪支架是否调整至水平位置;

对处于所述水平位置的光伏跟踪支架进行水平角度标定,基于所述偏差值修正角度偏差。

4.一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量装置,其特征在于,运用所述权利要求1~3中任一项所述的光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法,包括:

辐照测量模块,用于光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据,其中,一组光伏跟踪支架正面辐照数据包括同一时间内多个所述光伏跟踪支架的正面辐照数据;

全方位辐照监测模块,用于基于所述多组正面辐照数据,获取所述光伏跟踪支架的正面辐照值;

所述全方位辐照监测模块,还用于根据所述光伏跟踪支架的正面辐照值,计算所述光伏跟踪支架阵列的运行精度,以对所述光伏跟踪支架阵列进行校正。

5.根据权利要求4所述的一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量装置,其特征在于,所述全方位辐照监测模块,还用于获取所述光伏跟踪支架阵列的全方位辐照值;将所述全方位辐照值中的最大辐照值作为基准值。

6.根据权利要求5所述的一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量装置,其特征在于:所述辐照测量模块,安装于光伏跟踪支架阵列的每个光伏跟踪支架的正面。

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