[发明专利]一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 202110676912.0 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113364408B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 孙长江;吴芳和;俞琨;王伟祥;翁凯雷;杨宏毅;李兴龙;沈钱兰;王士涛;李彩霞 申请(专利权)人: 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司;江苏中信博新能源科技股份有限公司
主分类号: H02S20/32 分类号: H02S20/32
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 代理人: 杨用玲
地址: 310014*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 跟踪 支架 阵列 运行 精度 测量方法 装置
【说明书】:

发明涉及光伏跟踪技术领域,提供光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置,方法包括:光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据,其中,一组光伏跟踪支架正面辐照数据包括同一时间内多个光伏跟踪支架的正面辐照数据;基于正面辐照数据,获取光伏跟踪支架的正面辐照值;根据光伏跟踪支架的正面辐照值,计算光伏跟踪支架阵列的运行精度,以对光伏跟踪支架阵列进行校正。判定光伏跟踪支架的角度偏差引起的辐射差异的精度定,定义光伏跟踪支架阵列的整体跟踪精度,根据测量结果判断光伏跟踪支架或阵列是否需要校正,对光伏跟踪项目的跟踪进度提出明确的改善目标。

技术领域

本发明涉及光伏跟踪技术领域,特别涉及一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置。

背景技术

光伏跟踪支架的运行精度,通常是由光伏跟踪支架的目标角度和运行实际角度的差值来定义,这样的定义方式只是纯粹从角度数据、机械结构方面对运行状态进行了某一个光伏跟踪支架的精度判定,缺乏与光伏跟踪支架阵列整体的更具有代表意义的精度描述。

目前行业对跟踪精度的计算或测量,都是基于用光伏跟踪支架实际运行角度和光伏跟踪支架目标位置角度的差值获得,现有方法获取的精度仅能反映一个光伏跟踪支架运行时的机械结构位置精度。

发明内容

本发明为了解决上述问题,提供光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置。

为了实现本发明以上发明目的,本发明是通过以下技术实现的:

本发明提供一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法,光伏跟踪支架阵列包括多个光伏跟踪支架,每个光伏跟踪支架均设置光伏组件,包括:

光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据,其中,一组光伏跟踪支架正面辐照数据包括同一时间内多个所述光伏跟踪支架的正面辐照数据;

基于所述正面辐照数据,获取所述光伏跟踪支架的正面辐照值;

根据所述光伏跟踪支架的正面辐照值,计算所述光伏跟踪支架阵列的运行精度,以对所述光伏跟踪支架阵列进行校正。

进一步优选地,所述光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据包括:

在设定测量时间和天气下,对多组光伏跟踪支架进行间隔设定时间测量,采集多组正面辐照数据;

其中,间隔得到n组正面辐照数据,每组内m个正面辐照数据,总共m×n个辐照数据。

进一步优选地,计算所述光伏跟踪支架阵列的运行精度包括:

以每组光伏跟踪支架正面辐照数据中的最大辐照值作为基准值,计算各组光伏跟踪支架辐照偏差δi,根据辐照偏差δi调整每组光伏跟踪支架角度。

进一步优选地,所述辐照偏差δi的计算公式为:

Ii-max=MAX(Ii-1,Ii-2,…,Ii-j,…,Ii-m)

其中,m为所述光伏跟踪支架阵列内的光伏跟踪支架的数量;Ii-j为第i组第j个光伏跟踪支架的正面辐射强度;Ii-max为基准值即每组m个正面辐照值中(Ii-1、Ii-2、…、Ii-j、…、Ii-m)的最大辐照值;δi:第i组光伏跟踪支架阵列的辐照偏差。

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