[发明专利]一种精密金属掩膜版张网拉伸精确度检测方法有效
申请号: | 202110677014.7 | 申请日: | 2021-06-18 |
公开(公告)号: | CN113295093B | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 钱超;杨柯;牛恩众;余强根 | 申请(专利权)人: | 常州高光半导体材料有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;C23C14/04;C23C14/24;H10K71/16 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 徐冬涛 |
地址: | 213311 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 金属 掩膜版张网 拉伸 精确度 检测 方法 | ||
1.一种精密金属掩膜版张网拉伸精确度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在精密掩膜版的两侧长边中点对称焊接有校准点(3);所述校准点(3)在检测完毕后需要切除;
S2:以两个校准点(3)的中点为原点建立直角坐标系,将掩膜版(1)分割成四个象限块;
S3:在四个象限块内选取四个激光标记点a,b,c,d;所述激光标记点a,b,c,d依次两两关于坐标轴对称;
S4:计算激光标记点a,b,c,d的拉伸后理论点A1,B1,C1,D1;所述S4具体包括:记录掩膜版(1)拉伸前的长边长度E1和拉伸后的长边长度E2,计算长边长度E1与长边长度E2的比例系数为记录掩膜版(1)拉伸前的宽边长度F1和拉伸后的宽边长度F2,计算宽边长度F1与宽边长度F2的比例系数β,设激光标记点a坐标为(x,y),则拉伸后理论点A1的坐标则为
S5:检测并获取四个激光标记点a,b,c,d在拉伸后的掩膜版(1)实际位置点A2,B2,C2,D2坐标;
S6:设定误差阈值μ为30μm,分别计算实际位置点A2,B2,C2,D2与对应的理论点A1,B1,C1,D1的绝对距离L;
S7:所有点的绝对距离L都小于误差阈值μ时,则为合格。
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