[发明专利]存储器修复测试方法及系统

权利要求书

1.一种存储器修复测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

生成一信息统计记录表，所述信息统计记录表中的数据结构与存储器中存储单元的地址信息和数据信息相对应；

通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到所述存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；

将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入所述信息统计记录表中；

当所有测试向量执行完毕后，根据所述信息统计记录表中记录的信息对所述存储器中失效存储单元进行修复处理。

2.根据权利要求1所述的存储器修复测试方法，其特征在于，所述信息统计记录表的数据结构包括X向位、Y向位以及Z向位，所述X向位和所述Y向位分别包括若干分别与存储器中的存储单元的地址信息相对应的信息位，所述Z向位包括若干与所述存储器的存储单元中的数据信息相对应的信息位；向所述信息统计记录表录入失效存储单元的信息时，根据所述失效存储单元的地址信息在所述信息统计记录表中找到与X向位、Y向位对应的信息位并作出失效标记，并将该失效存储单元的数据信息记录在所述失效标记所对应的Z向位中的信息位中。

3.根据权利要求2所述的存储器修复测试方法，其特征在于，根据所述信息统计记录表中记录的信息对所述存储器中失效存储单元进行修复处理方法包括：优先对所有所述失效标记共有的X相位或Y相位最多的一行或一列进行处理。

4.根据权利要求1所述的存储器修复测试方法，其特征在于，所述存储器为铁电存储器。

5.一种存储器修复测试系统，其特征在于，包括记录表生成模块、分析模块、记录模块及处理模块；

所述记录表生成模块，用于生成一信息统计记录表，所述信息统计记录表中的数据结构与存储器中存储单元的地址信息和数据信息相对应；

所述分析模块，用于通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到所述存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；

所述记录模块，用于将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入所述信息统计记录表中；

所述处理模块，用于当所有测试向量执行完毕后，根据所述信息统计记录表中记录的信息对所述存储器中失效存储单元进行修复处理。

6.根据权利要求5所述的存储器修复测试系统，其特征在于，所述信息统计记录表的数据结构包括X向位、Y向位以及Z向位，所述X向位和所述Y向位分别包括若干分别与存储器中的存储单元的地址信息相对应的信息位，所述Z向位包括若干与所述存储器的存储单元中的数据信息相对应的信息位；所述记录模块根据所述失效存储单元的地址信息在所述信息统计记录表中找到与X向位、Y向位对应的信息位并作出失效标记，并将该失效存储单元的数据信息记录在所述失效标记所对应的Z向位中的信息位中。

7.根据权利要求6所述的存储器修复测试系统，其特征在于，所述处理单元优先对所有所述失效标记共有的X相位或Y相位最多的一行或一列进行处理。

8.根据权利要求5所述的存储器修复测试系统，其特征在于，所述存储器为铁电存储器。

9.一种存储器修复测试系统，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器；

以及一个或多个程序，其中一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行如权利要求1至4任一项所述的存储器修复测试方法的指令。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括测试用计算机程序，所述计算机程序可被处理器执行以完成如权利要求1至4任一项所述的存储器修复测试方法。