[发明专利]存储器修复测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种存储器修复测试方法及系统，其中该方法包括如下步骤：生成一信息统计记录表；通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入信息统计记录表中；当所有测试向量执行完毕后，根据信息统计记录表中记录的信息对存储器中失效存储单元进行修复处理；采用上述存储器修复测试方法，在采用多段测试向量对存储器进行测试过程中，中间无须停顿，待所有测试向量执行完毕后，统一有有序地对所有的失效存储单元进行修复处理，具有测试和修复处理效率高的优点，有效节约测试时间。

技术领域

本发明涉及存储器修复检测技术领域，尤其涉及一种高效的存储器修复测试方法及系统。

背景技术

存储器芯片在出厂前要进行测试，在目前主流储存器的生产测试中，一些存储器因为其内部单元的缺陷问题，导致芯片无法实现正常的存储功能。为了降低芯片成本，提高芯片良率，所以在设计芯片时会预留一部分冗余的存储单元用于替换故障的存储单元，从而实现失效修复。在进行测试过程中，为确保存储器的存储性能稳定，测试机往往会跑多种测试向量，如果某一测试向量中存在FAIL的信息，按照传统的方法是，是跑一次测试向量，停下来对存储器中FAIL的信息进行处理一次，如果需要测试的向量很多的话，所需要的测试时间成本就偏高，造成测试效率低下。

发明内容

本发明的目的是为解决上述技术问题的不足而提供一种可有效提高存储芯片测试效率的存储器修复测试方法及系统。

为了实现上述目的，本发明公开了一种存储器修复测试方法，包括如下步骤：

生成一信息统计记录表，所述信息统计记录表中的数据结构与存储器中存储单元的地址信息和数据信息相对应；

通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到所述存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；

将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入所述信息统计记录表中；

当所有测试向量执行完毕后，根据所述信息统计记录表中记录的信息对所述存储器中失效存储单元进行修复处理。

较佳的，所述信息统计记录表的数据结构包括X向位、Y向位以及Z向位，所述X向位和所述Y向位分别包括若干分别与存储器中的存储单元的地址信息相对应的信息位，所述Z向位包括若干与所述存储器的存储单元中的数据信息相对应的信息位；向所述信息统计记录表录入失效存储单元的信息时，根据所述失效存储单元的地址信息在所述信息统计记录表中找到与X向位、Y向位对应的信息位并作出失效标记，并将该失效存储单元的数据信息记录在所述失效标记所对应的Z向位中的信息位中。

较佳的，根据所述信息统计记录表中记录的信息对所述存储器中失效存储单元进行修复处理方法包括：优先对所有所述失效标记共有的X相位或Y相位最多的一行或一列进行处理。

较佳的，所述存储器为铁电存储器。

本发明还公开一种存储器修复测试系统，其包括记录表生成模块、分析模块、记录模块及处理模块；

所述记录表生成模块，用于生成一信息统计记录表，所述信息统计记录表中的数据结构与存储器中存储单元的地址信息和数据信息相对应；

所述分析模块，用于通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到所述存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；

所述记录模块，用于将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入所述信息统计记录表中；

所述处理模块，用于当所有测试向量执行完毕后，根据所述信息统计记录表中记录的信息对所述存储器中失效存储单元进行修复处理。