[发明专利]一种台面射频PIN二极管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110689168.8 申请日: 2021-06-22
公开(公告)号: CN113437157B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 徐婷;马文力 申请(专利权)人: 扬州国宇电子有限公司
主分类号: H01L29/868 分类号: H01L29/868;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 南京源点知识产权代理有限公司 32545 代理人: 罗超;黄启兵
地址: 225000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 台面 射频 pin 二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种台面射频PIN二极管,其特征在于,包括:

N型重掺杂衬底,所述N型重掺杂衬底包括底层和顶层,所述底层下方设置有背面多层金属,所述顶层的横截面面积小于所述底层的横截面面积,所述顶层设置于所述底层上方且与所述底层一体成型;

高阻本征层,设置于所述顶层上方;

P型重掺杂层,设置于所述高阻本征层的上方,在所述P型重掺杂层上表面设置有PtSi掺杂部;

其中,所述顶层、P型重掺杂层、高阻本征层共同构成一个三层的柱形体;

钝化层,设置于所述底层上方,所述钝化层包覆所述柱形体,所述钝化层在所述柱形体上方开设有通孔,所述PtSi掺杂部与所述钝化层紧密相连,且完全覆盖所述P型重掺杂层上表面,所述钝化层由内向外包括二氧化硅层一、二氧化硅层二及氮化硅层,所述二氧化硅层一通过热氧化方式制得,所述二氧化硅层二通过化学淀积方式制得,所述二氧化硅层一的厚度大于所述二氧化硅层二的厚度,所述二氧化硅层二的厚度大于所述氮化硅层的厚度;

在P型重掺杂层上方设有正面多层金属,所述正面多层金属穿过所述通孔与所述P型重掺杂层接触。

2.根据权利要求1所述的台面射频PIN二极管,其特征在于:所述二氧化硅层一厚度为所述氮化硅层厚度为

3.根据权利要求1所述的台面射频PIN二极管,其特征在于:所述柱形体侧壁与水平面之间的夹角为85~90°,所述柱形体高度大于10μm。

4.一种如权利要求1所述的台面射频PIN二极管的制备方法,包括以下步骤:

S1、选一片N型重掺杂硅片作为器件的衬底,在所述N型重掺杂衬底顶层上外延生长一层所述高阻本征层;

S2、在所述高阻本征层上通过液态源涂覆扩散退火推出所述P型重掺杂层;

S3、通过光刻、刻蚀制备所述柱形体;

S4、在所述柱形体外周制备所述钝化层,所述钝化层包裹住柱形体侧壁以及上表面,具体如下:

S4.1、在所述柱形体外周通过热氧化制备二氧化硅层一;

S4.2、在所述二氧化硅层一外周通过化学淀积制备二氧化硅层二;

S4.3、在所述二氧化硅层二外周通过化学反应合成氮化硅层;

S5、光刻制备图形,刻蚀开出正面电极接触的所述通孔;

S6、溅射Pt并合金形成所述PtSi掺杂部;

S7、使用负胶形成正面金属图形;

S8、蒸发制备所述正面多层金属;

S9、使用剥离工艺去除多余金属及光刻胶;

S10、减薄并蒸发制备所述背面多层金属。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于:所述步骤S3具体如下:

S3.1、在所述P型重掺杂层上生长氮化硅作为刻蚀用掩蔽层;

S3.2、光刻做出图形、干法刻蚀出柱形体后去胶;

S3.3、湿法腐蚀去除侧壁刻蚀损伤层及自然氧化层;

S3.4、湿法去除剩余的氮化硅层。

6.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于:所述步骤S6具体如下:

通过磁控溅射在所述P型重掺杂层上表面溅射一层Pt,再经过55~700℃高温合金,形成所述PtSi掺杂部。

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