[发明专利]处理由辐射热计检测器和相关设备收集的原始图像的方法

权利要求书

1.一种处理原始图像的方法，其特征在于，原始测量值Pix(i,j)包括第一原始测量值Pix₁(i,j)和第二原始测量值Pix₂(i,j)，所述第一原始测量值Pix₁(i,j)和第二原始测量值Pix₂(i,j)分别由检测器的以n行(L_i)和m列(C_j)的矩阵阵列的形式布置的辐射热计Bol(i,j)的组中的第一辐射热计Bol₁(i,j)和第二辐射热计Bol₂(i,j)收集，在获取原始测量值Pix(i,j)期间所述第一辐射热计Bol₁(i,j)被封闭，由计算机基于参考测量值Pix_REF(i,j)来执行所述方法，所述参考测量值Pix_REF(i,j)包括分别与所述第一辐射热计Bol₁(i,j)和所述第二辐射热计Bol₂(i,j)相关联的第一参考测量值Pix_1REF(i,j)和第二参考测量值Pix_2REF(i,j)，所述参考测量值Pix_REF(i,j)在校准检测器的步骤期间通过用快门遮蔽所有辐射热计获得，所述快门保持在参考温度，所述方法包括：

a)相关步骤，包括在所述第一原始测量值Pix₁(i,j)和所述第一参考测量值Pix_1REF(i,j)之间对每个第一辐射热计Bol₁(i,j)的线性回归，满足以下关系：

Pix₁(i，j)＝α.Pix_1REF(i，j)+Pix_offset

其中α和Pix_offset是线性回归期间确定的项；

b)校正原始图像的步骤，其包括基于所述参考测量值Pix_REF(i,j)和所述相关步骤a)的结果，计算至少每个第二辐射热计Bol(i,j)的校正图像的校正测量值Pix_Cor(i,j)。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述校正步骤b)包括根据以下关系计算至少每个第二辐射热计Bol(i,j)的校正测量值Pix_Cor(i,j)：

Pix_Cor(i，j)＝Pix(i，j)-α.Pix_REF(i，j)-Pix_offset

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述参考测量值Pix_REF(i,j)被保存在所述检测器的存储空间中。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其中，所述检测器设置有安装在光阑上的透镜，所述光阑在检测器的角落处封闭第一辐射热计Bol₁(i,j)。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，所述参考温度是等于检测器温度的温度。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述参考测量值Pix_REF(i,j)是在所述校准步骤期间由辐射热计实际收集的信号的平均测量值。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中，所述检测器还包括盲测辐射热计Bol_blind(j)，每个盲测辐射热计Bol_blind(i,j)被实施用于对其特定的至少一列辐射热计Bol(i,j)的辐射热计进行差分测量；每个盲测辐射热计Bol_blind(i,j)有利地与单列(C_j)辐射热计(Bol(i,j))相关联。

8.一种计算机程序，当它由计算机执行时，导致实施根据权利要求1至7中任一项所述的方法。

9.一种设备，包括：

-检测器，其设置有以n行(L_i)和m列(C_j)的矩阵阵列形式布置的辐射热计Bol(i,j)，所述辐射热计包括第一辐射热计Bol₁(i,j)和第二辐射热计Bol₂(i,j)，所述第一辐射热计Bol₁(i,j)被封闭；

-计算机，其设置有根据权利要求8所述的计算机程序。