[发明专利]处理由辐射热计检测器和相关设备收集的原始图像的方法

说明书

一种用于处理原始图像的方法，其特征在于由检测器的辐射热计组Bol(i,j)中的第一辐射热计Bol₁(i,j)和第二辐射热计Bol₂(i,j)收集的第一原始测量值Pix₁(i,j)和第二原始测量值Pix₂(i,j)，第一辐射热计Bol₁(i,j)关闭，由计算机基于参考测量值Pix_REF(i,j)来执行该方法，该参考测量值Pix_REF(i,j)包括分别与第一辐射热计Bol₁(i,j)和第二辐射热计Bol₂(i,j)相关联的第一参考测量值Pix_1REF(i,j)和第二参考测量值Pix_2REF(i,j)，该方法包括：a)相关步骤，将第一原始测量值Pix₁(i,j)和第一参考测量值Pix_1REF(i,j)关联；b)校正原始图像的步骤，其包括基于参考测量值Pix_REF(i,j)和步骤(a)的结果，计算每个辐射热计Bol(i,j)的校正图像的校正测量值Pix_Cor(i,j)。

技术领域

本发明涉及一种用于处理由设置有辐射热计矩阵阵列的检测器收集的原始图像的方法。根据本发明的处理方法尤其旨在校正由检测器的辐射热计的特征中的离散引起的不均匀性。

本发明还涉及能够实现根据本发明的方法的所有步骤的计算机程序。

本发明最后涉及一种包括辐射热计的检测器以及一种实施该计算机程序的计算机。

背景技术

从现有技术已知的红外检测器(或成像器)通常包括以n行和m列的矩阵阵列的形式组织的辐射热计。

当它们暴露在场景中以获取图像时，这些对场景温度敏感的辐射热计会经历电阻的变化。换句话说，在每个辐射热计中流动的电流取决于场景的温度，但也取决于环境温度。

特别是，辐射热计矩阵阵列的辐射热计Bol(i，j)的测量值Sp(i，j)根据以下规律发展：

其中：

-T_amb是环境温度，也与成像器的温度有关；

-T_scene是辐射热计i，j所见场景的温度；

-R_esp是辐射热计的响应能力；

-S_0，Tamb是辐射热计在场景温度等于成像器温度时的输出值。

项R_esp反映了辐射热计将输入信号(特别是辐射)转换为电信号，尤其是电流的能力。项R_esp取决于用于设计辐射热计的材料及其架构，与其电阻率密切相关。后者作为环境温度的函数以及该环境温度与场景温度之间的差异的函数而变化。推算场景温度需要知道成像器T_amb的温度，因此检测器一般还设置有温度传感器。

在实践中，这种检测器还设置有另外的辐射热计，称为盲测辐射热计，它们不暴露在场景中。它们的电阻率以及因此流过它们的电流仅取决于环境温度T_amb。

因此，流过盲测辐射热计和辐射热计矩阵阵列的辐射热计的电流的差分测量可以推断其电阻率的变化。

通常，辐射热计矩阵阵列的每一列与在差分测量期间为所述列的辐射热计中的每一个实施的盲测辐射热计相关联。然而，可以设想其他配置，特别是为多列辐射热计合并单个盲测辐射热计。

能够使用这种设备获得的场景的原始图像(图1)通常无法使用，并且需要额外的处理。