[发明专利]一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置

权利要求书

1.一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法，其特征在于，所述方法包括：

通过预设的激励回归对芯片代码进行仿真计算，确定无覆盖率的待测点；

接收第一操作指令，基于所述第一操作指令编写所述待测点对应的断言，所述断言用以表征所述待测点所表示的输入状态无法达到；

构建形式化环境，在所述形式化环境中运行所述断言，判断所述断言的运行结果；

根据所述运行结果反向补充所述待测点的输入状态假设，并基于所述输入状态假设生成测试激励，通过所述测试激励对芯片代码进行仿真验证；

所述构建形式化环境，在所述形式化环境中运行所述断言，判断所述断言的运行结果，包括：

通过形式化验证工具构建形式化环境；

在所述形式化环境中运行所述断言，并判断所述断言的运行结果；

当所述断言的运行结果表征所述断言运行成功时，则确定所述待测点无法进行覆盖；

当所述断言的运行结果表征所述断言运行失败时，则确定所述待测点存在输入状态问题，并基于所述形式化验证工具生成第一反例；

所述根据所述运行结果反向补充所述待测点的输入状态假设，并基于所述输入状态假设生成测试激励，通过所述测试激励对芯片代码进行仿真验证，包括：

当从所述运行结果中检测到第一反例时，确定所述断言对应的输入状态不正确；

将所述第一反例作为所述待测点的输入状态假设，并基于所述输入状态假设生成测试激励；

重复所述构建形式化环境，在所述形式化环境中运行所述断言，判断所述断言的运行结果的步骤，直至所有所述待测点均不存在输入状态问题后，通过得到的各所述测试激励对芯片代码进行仿真验证；

所述将所述第一反例作为所述待测点的输入状态假设之后，还包括：

在所述形式化环境中重新运行所述断言，获得第二反例；

对比所述第一反例与第二反例，判断所述第一反例与第二反例是否相同；

当所述第一反例与第二反例不相同时，重复所述在所述形式化环境中重新运行所述断言的步骤，形成反例集合；

分析所述反例集合，确定所述反例集合的反例共性，基于所述反例共性补充完善所述反例集合，将完善后的所述反例集合确定为所述待测点的输入状态假设集合；

所述基于所述输入状态假设生成测试激励，包括：

基于所述输入状态假设集合生成测试激励。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过预设的激励回归对芯片代码进行仿真计算，确定无覆盖率的待测点，包括：

获取待验证的芯片代码，基于预设的激励回归对所述芯片代码进行仿真计算，确定所述芯片代码中实现激励回归的覆盖点；

将各所述覆盖点与所述芯片代码进行比对，筛选确定无覆盖率的待测点。