[发明专利]一种非环形磁芯无损检测方法及装置

权利要求书

1.一种非环形磁芯无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸，所述待检测磁芯的形状为非环形；

根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能和第一结构的U型检测装置；其中，所述第一磁性能高于所述设定磁性能；所述第一结构使得当所述待检测磁芯通过所述U型检测装置的两个柱部搭载到所述U型检测装置的上时，所述待检测磁芯和所述两个柱部中每个柱部之间的接触面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，并且所述第一结构使得所述两个柱部中每个柱部的任一处的截面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，以及所述U型检测装置的轭部的任一处的截面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，所述轭部为所述U型检测装置中处于所述两个柱部之间的部位；

将所述待检测磁芯通过所述两个柱部搭载到所述U型检测装置，以及调整所述待检测磁芯和所述两个柱部之间的相对位置，使得所述两个柱部中每个柱部和所述待检测磁芯之间的接触面积大于所述待检测磁芯的有效截面积；

在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

所述第一待检部位为所述待检测磁芯中处于所述两个柱部之间的部位，或者，

所述第一待检部位为所述U型检测装置的轭部。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述两个柱部中第一柱部的端面与第一局部之间具有第一间隔，所述第一间隔的厚度为0.01mm-2mm，所述第一局部为所述待检测磁芯中与所述第一柱部的端面相对的部位；

所述第一间隔为气隙或片状绝缘体。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述两个柱部中第一柱部的端面设置有第一凹槽，用于容纳第一局部，所述第一局部为所述待检测磁芯中与所述第一柱部的端面相对的部位；

所述第一凹槽的深度不大于所述第一局部的高度，其中所述第一局部的高度方向垂直于所述第一柱部的端面；

所述第一局部置于所述第一凹槽的部分与所述第一凹槽的内侧边缘间隙小于0.2mm。

5.一种非环形磁芯无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸，所述待检测磁芯的形状为非环形；

根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能的检测装置，所述检测装置包括分体设置的第一U型检测部件和第二U型检测部件；所述第一U型检测装置具有第一柱部和第二柱部，所述第二U型检测装置具有第三柱部和第四柱部；其中，在所述检测装置的使用状态下，所述第一柱部和所述第三柱部相对设置，所述第二柱部和所述第四柱部相对设置；

将所述待检测磁芯放置所述第一U型检测部件和所述第二U型检测部件之间，其中，所述待检测磁芯的第一局部位于在所述第一柱部和所述第三柱部之间，所述待检测磁芯的第二局部位于所述第二柱部和所述第四柱部之间，所述第一局部和所述第二局部为所述待检测磁芯中相对的两个端部；其中，所述第一局部和所述第一柱部之间的接触面积加上所述第一局部和所述第三柱部之间的接触面积得到的加和大于所述待检测磁芯的有效截面积，所述第二局部和所述第二柱部之间的接触面积加上所述第二局部和所述第四柱部之间的接触面积得到的加和大于所述待检测磁芯的有效接触面积；

在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能；其中，

所述第一待检部位为所述待检测磁芯中处于所述第一柱部和所述第三柱部之间的部位。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述第一柱部与所述第一局部之间具有第一间隔；和/或，

所述第三柱部与所述第一局部之间具有第一间隔；和/或，

所述第二柱部与所述第二局部之间具有第一间隔；和/或，

所述第四柱部与所述第二局部之间具有第一间隔；

其中，所述第一间隔为气隙或片状绝缘体，所述第一间隔的厚度为0.01mm-2mm。