[发明专利]一种非环形磁芯无损检测方法及装置

说明书

本说明书涉及磁性材料技术领域，具体涉及一种非环形磁芯无损检测方法及装置。该方法包括如下步骤：获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸；根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能和第一结构的U型检测装置；将所述待检测磁芯通过所述两个柱部搭载到所述U型检测装置，以及调整所述待检测磁芯和所述两个柱部之间的相对位置，使得所述两个柱部中每个柱部和所述待检测磁芯之间的接触面积大于所述待检测磁芯的有效截面积；在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能。

技术领域

本说明书涉及磁性材料技术领域，具体涉及一种非环形磁芯无损检测方法及装置。

背景技术

磁芯为一种重要的磁芯器件，具有广泛的应用，是多种电子设备的重要组成部件。磁芯的性能直接或间接影响了电子设备的功能。因此，为磁芯投入使用前，需要对其磁性能进行检测。

对于磁芯磁性能的检测，须构成完整的磁回路。对于常规的环形磁芯，其自身已构成完整的闭合磁回路。因此，可以直接在磁芯上绕线即可通过检测仪器直接进行检测。但由于磁芯应用领域多种多样，使得磁芯的形状也各式各样。除了环形磁芯外，还有块状等非环形磁芯。非环形磁芯自身不是闭合磁回路，难以直接在其上绕线，以进行检测。

目前，为了检测非环形磁芯的磁性能，需要先将非环形磁芯雕刻成环形磁芯，再对该环形磁芯进行磁性能检测。该方案操作繁琐，耗时长。并且在实际产品的批量生产中，只能实现抽检少部分样品对大批量磁芯进行统计性的检测，这样使得批量产品的磁性能一致性容易存在误差。

发明内容

本说明书实施例提供了一种非环形磁芯无损检测方法及装置，可以对非环形磁芯进行无损检测，从而可以实现对大批量磁芯的覆盖性检测。

第一方面，本说明书实施例提供了一种非环形磁芯无损检测方法，包括如下步骤：

获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸，所述待检测磁芯的形状为非环形；

根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能和第一结构的U型检测装置；其中，所述第一磁性能高于所述设定磁性能；所述第一结构使得当所述待检测磁芯通过所述U型检测装置的两个柱部搭载到所述U型检测装置的上时，所述待检测磁芯和所述两个柱部中每个柱部之间的接触面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，并且所述第一结构使得所述两个柱部中每个柱部的任一处的截面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，以及所述U型检测装置的轭部的任一处的截面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，所述轭部为所述U型检测装置中处于所述两个柱部之间的部位；

将所述待检测磁芯通过所述两个柱部搭载到所述U型检测装置，以及调整所述待检测磁芯和所述两个柱部之间的相对位置，使得所述两个柱部中每个柱部和所述待检测磁芯之间的接触面积大于所述待检测磁芯的有效截面积；

在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能。

其中，所述U型检测装置由高导磁率、低损耗的磁芯材料构成，使其可以作为待检测磁芯的检测过程中的磁短路部件。在一些实施例中，U型检测装置可以由铁氧体或纳米晶等材质构成。在这些实施例的一个示例中，U型检测装置可以由软磁铁氧体构成。在该示例的一个例子中，U型检测装置具体可以由锰锌铁氧体构成。在一些实施例中，待检测磁芯具体为条形磁芯。在一些实施例中，U型检测装置用于检测待检测磁芯的磁导率、损耗等磁性能。

在本说明书实施例提供的方案中，U型检测装置与非常规环形的，尤其是条块状磁芯进行组合，形成闭合磁回路，U型检测装置作为磁短路部分，其磁导率、截面积均大于磁芯的指标，使得磁短路部件的损耗相比于磁芯可以忽略，达到测试磁芯的损耗、磁导率等磁性能的目的。