[发明专利]用于测试模组射频性能的测架和射频性能测试系统

权利要求书

1.一种用于测试模组射频性能的测架，其特征在于，包括：测试台、屏蔽区域以及用于容置待测模组的容置区；所述容置区开设在所述测试台上，所述待测模组包括相连的天线部分和芯片部分，所述屏蔽区域至少部分覆盖所述待测模组的天线部分；

所述屏蔽区域包括第一部分和第二部分；所述第一部分设置在所述容置区中对应所述天线部分的区域，所述第二部分设置在所述测架的夹具上；所述第一部分与所述容置区可拆卸设置和/或所述第二部分与所述夹具可拆卸设置。

2.根据权利要求1所述的测架，其特征在于，所述第一部分和所述第二部分在所述待测模组上的投影完全覆盖所述天线部分。

3.根据权利要求1所述的测架，其特征在于，所述第一部分和第二部分的材质为洋白铜。

4.根据权利要求1所述的测架，其特征在于，在测试过程中，所述第一部分与所述天线部分之间存在缝隙d1，0.1mm≤d1≤0.5mm；所述第二部分与所述天线部分之间存在缝隙d2，0.1mm≤d2≤0.5mm。

5.根据权利要求1所述的测架，其特征在于，所述屏蔽区域为一体成型的屏蔽罩，所述屏蔽罩设置在所述容置区中对应所述天线部分的区域；所述屏蔽罩的一端设有开口，所述待测模组的天线部分通过所述开口嵌入至所述屏蔽罩内。

6.根据权利要求5所述的测架，其特征在于，所述屏蔽罩的材质为具有弹性的金属材料。

7.根据权利要求5所述的测架，其特征在于，所述开口的高度为h，0.2mm≤h≤1mm。

8.一种射频性能测试系统，其特征在于，包括测试仪器和权利要求1至7任一项所述的测架，所述测试仪器通过射频线与所述容置区内的待测模组相连。