[发明专利]用于测试模组射频性能的测架和射频性能测试系统

说明书

本申请涉及一种用于测试模组射频性能的测架和测试系统，其中，测架包括测试台、屏蔽区域以及用于容置待测模组的容置区；容置区开设在所述测试台上，待测模组包括相连的天线部分和芯片部分，屏蔽区域至少部分覆盖所述待测模组的天线部分。通过设置屏蔽区域，使天线一直处于开路或接近开路的固定状态，从而可以解决环境对天线的影响，解决了相关技术中射频测试不准确的问题。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，特别是涉及一种用于测试模组射频性能的测架和射频性能测试系统。

背景技术

随着物联网推广的深入，万物互联必将成为未来的发展方向。诸如WIFI、 ZIGBEE、NB-IOT、LORA、BLE和TPMS，各类民用设备的无线控制装置、模型、玩具无线电遥控设备、工业用无线遥控设备、通用无线遥控设备等，无线连接方案越来越多的应用在产品设计上。而这些RF性能的产线测试方案将会越来越多的被应用在生产测试上。

目前RF性能的产测方式普遍采用传导不断开天线RF产测。一般通过传导断天线和不断天线时不同模式不同信道功率差值来确认不断天线时天线部分损耗，然后把这部分损耗作为一个固定补偿值去做传导不断天线RF产测。

但是，上述方式会随着天线在不同环境下方向性、效率值等不同而造成实际天线损耗与补偿值存在比较大的差异。另外，对于产线EVM测试，由于天线周围环境的不确定性，造成EVM测试通过率降低。针对相关技术中传导不断开天线RF产测不准确的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种用于测试模组射频性能的测架和射频性能测试系统，以至少解决相关技术中射频测试不准确的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种用于测试模组射频性能的测架，包括：测试台、屏蔽区域以及用于容置待测模组的容置区；所述容置区开设在所述测试台上，所述待测模组包括相连的天线部分和芯片部分，所述屏蔽区域至少部分覆盖所述待测模组的天线部分。

在其中一些实施例中，所述屏蔽区域包括第一部分和第二部分；所述第一部分设置在所述容置区中对应所述天线部分的区域，所述第二部分设置在所述测架的夹具上。

在其中一些实施例中，所述第一部分和第二部分的材质为洋白铜。

在其中一些实施例中，所述第一部分和所述第二部分在所述待测模组上的投影完全覆盖所述天线部分。

在其中一些实施例中，所述第一部分与所述容置区可拆卸设置和/或所述第二部分与所述夹具可拆卸设置。

在其中一些实施例中，在测试过程中，所述第一部分与所述天线部分之间存在缝隙d1，0.1mm≤d1≤0.5mm；所述第二部分与所述天线部分之间存在缝隙 d2，0.1mm≤d2≤0.5mm。

在其中一些实施例中，所述屏蔽区域为一体成型的屏蔽罩，所述屏蔽罩设置在所述容置区中对应所述天线部分的区域；所述屏蔽罩的一端设有开口，所述待测模组的天线部分通过所述开口插入所述屏蔽罩内。

在其中一些实施例中，所述屏蔽罩的材质为具有弹性的金属材料。

在其中一些实施例中，所述开口的高度为h，0.2mm≤h≤1mm。

第二方面，本申请实施例提供了一种射频性能测试系统，包括测试仪器和上述的测架，所述测试仪器通过射频线与所述容置区内的待测模组相连。

相比于相关技术，本申请提供的用于测试模组射频性能的测架和测试系统，包括：测试台、屏蔽区域以及用于容置待测模组的容置区；所述容置区开设在所述测试台上，所述待测模组包括相连的天线部分和芯片部分，所述屏蔽区域至少部分覆盖所述待测模组的天线部分，通过设置屏蔽区域，使天线一直处于开路或接近开路的固定状态，从而可以解决环境对天线的影响，解决了相关技术中射频测试不准确的问题。